판매용 중고 HITACHI S-8640 #9179410

HITACHI S-8640 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 사용자가 작은 표면 입자의 물리적, 화학적 특성을 분석 할 수있는 분석 도구입니다. S-8640 은 강력한 자동화 기술과 결합된 안정적이고 고성능 스캐닝 (scanning) 전자 현미경 이미징 플랫폼을 제공합니다. 이 기기의 고급 SEM 디자인은 고정밀 자동 프로세스를 통해 최상위 수준의 이미징 기능을 제공합니다. 또한 2 차 전자 이미징, 역 산란 전자 이미징, X- 선 미세 분석 (EDX/EBSD) 및 TEM/STEM 이미징과 같은 다양한 이미징 기술을 제공합니다. HITACHI S-8640 의 고해상도 스캐닝 (Scanning) 기능을 통해 최대 0.5nm 해상도의 뛰어난 화질을 제공합니다. 또한 이미징 시스템에는 최고 품질의 이미지를 얻기 위해 기울기 (tilt), 스캔 영역 (scan area), 이미지 품질 (image quality) 및 속도 (speed) 를 자동으로 조정할 수 있습니다. 또한 S-8640 (S-8640) 은 다양한 유형의 표본에 다양한 표본 홀더를 사용하며, 이를 통해 표본을 이미징 시스템으로 자동으로 렌더링할 수 있습니다. 현미경에는 다중 축 제어, 매핑 내비게이션 (multi-axis control), 액세스 가능한 내부 데이터베이스 등 다양한 내비게이션 기능이 추가로 장착되어 있습니다. 또한 사용이 간편한 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 전용 소프트웨어를 사용하여 이미지 처리 시스템을 쉽고 빠르게 탐색할 수 있습니다. 분석 능력 측면에서 HITACHI S-8640 은 지형, 거칠기, 곡물 크기 등의 표면 기능을 측정할 수 있습니다. 또한 금속 분석을위한 실시간 데이터와 원소 조성에 대한 원소 (EDX/EBSD) 분석도 제공합니다. 이 현미경은 또한 사용자가 정확하고 정밀하게 미세 분석 및 관찰 작업을 수행 할 수 있도록 합니다. 결론적으로 S-8640 스캐닝 전자 현미경 (S-8640 Scanning Electron Microscope) 은 고급 분석 기구로, 뛰어난 이미징 기능을 갖춘 작은 표면 입자의 물리적, 화학적 특성을 분석하고 관찰 할 수 있습니다. 이 기기는 강력한 자동화 기술, 다양한 이미징 시스템, 탐색 기능, 다양한 분석 기능 등을 갖추고 있어 연구 전문가 (Research Professional) 와 실험실 (Laboratories) 을 위한 완벽한 선택입니다.