판매용 중고 HITACHI S-4700 Type II #9259272

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HITACHI S-4700 Type II
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ID: 9259272
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) OXFORD EDS included Low kV performance with resolution of 2.1 nm at 1 kV (2) Secondary electron detectors.
HITACHI S-4700 Type II 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 스캐닝 전자 빔을 사용하여 표면의 고해상도 이미지를 생성하는 강력한 현미경 장비입니다. 고체 금속, 생물학적 조직, 미네랄 (minerals) 과 같은 다양한 물질의 이미징 및 분석에 사용될 수있는 다재다능한 도구입니다. HITACHI S 4700 TYPE II는 사용자가 1kV ~ 30kV 범위의 가속 전압 중에서 선택할 수 있도록 하는 독특한 듀얼 열 설계를 특징으로합니다. 이것은 높은 공간 해상도와 낮은 표본 드리프트 (drift) 를 제공하여 자주 초점을 맞출 필요가 없습니다. SEM 은 최대 5 만 배의 배율로 고해상도 (high-resolution) 이미지를 제작할 수 있으며, 특정 기능을 더 잘 분석할 수 있는 컬러 이미지를 만들 수 있습니다. S-4700 Type II는 BSEI (Backscattered Electron Imaging), SEI (Secondary Electron Imaging) 및 EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) 와 같은 이미지 정확성과 대비를 증가시키는 다양한 고급 기술을 가지고 있습니다. 세이 (SEI) 는 초소형 전자로 영상을 촬영하고 주로 지형 이미지를 생성하는 반면, BSEI 는 표본에서 흩어져 더 많은 표면 특징을 가진 이미지를 생성하는 더 거대한 전자를 사용합니다. EDS 기능을 통해 사용자는 원소 작성을 분석할 수 있으며, 주로 박막 구조를 살펴보는 데 사용됩니다. S 4700 TYPE II에는 반도체 및 장치의 나노 스케일 (nanoscale) 분석과 같은 다양한 응용 분야에 이상적인 많은 기능이 있습니다. 또한 생물학적 샘플뿐만 아니라 고분자, 도자기, 금속 등의 물질을 특징 짓을 수 있습니다. 사용자 친화적이고 사용이 간편한 소프트웨어는 SEM을 학계, 연구, 산업을 위한 귀중한 툴로 만듭니다. 또한 HITACHI S-4700 Type II 에는 비디오 모니터, 진공 시스템, 카메라 인터페이스 등 다양한 정교한 액세서리가 함께 제공됩니다. 내장형 진공 시스템은 영상 (Imaging) 과 분석 (Analysis) 을 위한 깨끗한 환경을 만들고, 카메라 인터페이스는 실시간 데이터 입수를 허용합니다. 비디오 모니터는 다양한 보기 형식으로 고해상도 이미지를 표시합니다. 전반적으로 HITACHI S 4700 TYPE II는 다양한 재료의 나노 스케일 분석에 사용되는 정교하고 강력한 이미징 도구입니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 SEM 이 제공하는 이미지 처리 (imaging) 기능을 최대한 활용할 수 있습니다.
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