판매용 중고 HITACHI S-3000H #293645414

HITACHI S-3000H SEM (Scanning Electron Microscope) 은 작은 물체를 스캔한 전자의 빔으로 스캔하는 데 사용되는 광학 장치입니다. 현미경에는 고해상도, 와이드 필드 오브젝티브 렌즈 시스템, 2 차원 (2D) 가속도계 및 최신 컴퓨터 지원 이미지 처리 기술이 장착되어 있어 샘플 표면의 정확한 이미지를 사용자에게 제공합니다. HITACHI S 3000 H는 2 차 및 백 스캐터 전자 검출기를 사용하여 샘플 표면을 이미지화합니다. 스캐닝 전자 빔 (scanning electronbeam) 은 샘플 표면을 가로 질러 2D 가속도계로 편향되며, 2 차 및 역 산란 전자는 간격으로 수집되어 이미징 미디어에 기록됩니다. 샘플 서피스는 x, y 및 z 평면 패턴으로 스캔하여 3D 서피스 맵으로 형성되므로 서피스 피쳐의 정확한 측정이 가능합니다. S-3000H는 또한 고해상도 렌즈 1 세트와 광폭 이미징 및 스캐닝 용 렌즈 1 세트가있는 듀얼 오브젝티브 렌즈 시스템을 갖추고 있습니다. 고해상도 이미징 (고해상도 이미징) 과 넓은 영역의 광대역 이미지를 모두 사용할 수 있습니다. 현미경은 또한 다양한 스캔 패턴 (scan pattern) 과 스윕 모드 (sweep mode) 를 가지고 있으며 필요에 따라보다 특수한 스캔 패턴으로 사용자 정의 할 수 있습니다. S 3000 H 의 이미지 처리 및 분석 기능을 사용하면 고해상도 (high resolution) 와 명암비 (contrast) 로 이미지를 처리하고 처리 후 3D 표면 재구성을 수행할 수 있습니다. "마이크로스코프 '로 제작 된" 이미지' 들 은 시야 가 좋고, 대단 히 작은 특징 들 을 해결 하고 정확 하게 측정 할 수 있다. 이 시스템은 표면의 이미징을 사용자 정의하기 위해 다양한 스테이지 모션 시퀀스 (stage-motion sequence) 로 샘플 포지셔닝을 위한 자동화된 단계를 갖추고 있습니다. HITACHI S-3000H (HITACHI S-3000H) 는 강력한 광학 기기로, 고객에게 샘플 표면의 상세한 이미지를 제공하며, 산업 및 학술 분야에서 다양한 연구 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 다용도 스캐닝 모드와 강력한 이미지 처리 (image-processing) 기능을 조합하여 샘플 표면을 빠르고 효율적으로 이미징할 수 있습니다.