판매용 중고 HITACHI S-2700 #9046624

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ID: 9046624
빈티지: 1992
Scanning electron microscope (SEM) Noran 643C-1SSS EDS 1992 vintage.
HITACHI S-2700은 단단하고 부드러운 재료의 확대 영상에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 표준 3.2kV 가속 전압이 장착 된 SEM 챔버 (SEM 챔버) 가 장착되어 다양한 소재의 고해상도 이미징이 가능합니다. 고정밀 이미징 기능으로 인해 S-2700은 미세 구조 분석, 고장 분석, 금속 분석, 법의학 분석 등의 애플리케이션에 널리 사용됩니다. HITACHI S-2700 SEM의 1 차 성분은 필드 방출 건 (FEG) 으로, 매우 높은 배율로 표본의 영상에 사용될 수있는 미세하게 집중된 전자 빔을 생성합니다. "페그 '는 양극 전압 을 사용 하여" 텅스텐' "필라멘트 '로부터 전자 를 가속 시켜서, 시료 로 이동 할 때 직경 이 최소화 되는 일차적 인 전자 광선 을 만든다. 이를 통해 표본에서 매우 높은 배율로 집중되고 상세한 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 S-2700 의 광각 구성을 통해 한 장의 이미지로 더 넓은 영역을 볼 수 있으며, 50mm 의 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 를 통해 고도로 확대된 이미지를 만들 수 있습니다. 또한 SEM은 일체형 챔버 (chamber) 설계를 갖추고 있으며, 이는 cryostat 또는 진공 압력 장비와 같은 추가 대기 제어 시스템이 필요하지 않습니다. 따라서 이미지를 보다 쉽게 제작할 수 있는 사용자 친화적 환경이 가능합니다. HITACHI S-2700에는 이미징에 사용할 수있는 2 개의 검출기 (2 차 전자 검출기 및 역산포 전자 검출기) 가 제공됩니다. 이를 통해 표면 이미징 (surface imaging) 과 단면 이미징 (cross-sectional imaging) 을 모두 사용할 수 있으며, 표본에 전자를 방출하거나 표본에서 흩어진 전자를 검출하여 더 깊은 영상을 만듭니다. 듀얼 검출기 (Dual Detector) 시스템은 상세한 3D 이미지를 캡처하고 사용자에게 이미지를 자유롭게 탐색할 수 있도록 도와줍니다. 또한 S-2700 에는 시스템 작동이 용이한 컴퓨터 제어 장치가 내장되어 있습니다. 이 컴퓨터 도구에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 다양한 처리 매개변수 (Processing Parameter) 가 장착되어 있어 이미지 획득 및 조작을 최적화할 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S-2700 스캐닝 전자 현미경은 다른 현미경보다 이미징 및 데이터 획득이 크게 개선되어, 사용자가 매우 높은 배율로 표본의 고해상도 이미지를 만들 수 있습니다. 이중 검출기 자산과 간편한 컴퓨터 제어 모델을 갖춘 S-2700 은 미세 구조 분석, 장애 분석, 금속학, 법의학 분석 등을 위한 탁월한 선택입니다.
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