판매용 중고 HITACHI RS6000E #293668227

HITACHI RS6000E
ID: 293668227
Defect Review Scanning Electron Microscope (DR-SEM).
HITACHI RS6000E는 다양한 재료 특성 요구에 적합한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 글리콜 냉각장 방출 전자 총 (electron gun) 을 사용하여 최대 30kV의 편향 전압을 생성 할 수 있습니다. 또한, 장비는 0.1 nm 이하의 해상도를 달성 할 수 있으며, 이는 특히 박막, 나노 입자 및 기타 나노 물질과 같은 나노 스케일 구조의 분석에 유용하다. RS6000E에는 2 차 전자, 역 산란 전자 및 X- 선 검출기를 포함한 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. SEM은 2 차 전자 영상, 백스캐터링 된 전자 영상, X- 선 원소 매핑과 같은 다양한 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이를 통해 시스템은 서피스 지형, 원소 구성, 결정 성과 같은 재료 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한이 장치는 마이크로 분광학 및 기타 고급 분석을 수행 할 수 있습니다. HITACHI RS6000E 는 또한 최신 자동 이미지 기록 (Automatic Image Recording) 및 분석 소프트웨어 패키지를 갖추고 있으며, 이 패키지는 사용자에게 분석 프로세스를 완벽하게 제어하도록 설계되었습니다. e-View, SEMTK, SPMSt 애플리케이션 등의 소프트웨어 패키지를 활용하여 현미경 매개변수를 제어하고 생성된 데이터를 검토, 분석할 수 있습니다. 또한 이미지를 자동으로 정렬할 수 있도록 합니다. 즉, 이미지를 자동으로 정렬하면 품질 분석이 향상됩니다. 마지막으로, RS6000E 는 여러 가지 기능을 통합하여 표면 연산의 범위를 정확하게 확인합니다. 여기에는 분석용 샘플을 준비할 수 있는 핫 (hot) 또는 콜드 (cold) 스테이지, 최대 3.5 mm 의 뷰 필드, 풀 필드 이미징이 가능한 통합 모터 확대/축소 스테이지가 포함됩니다. 이 기계에는 완전 전동 표본 교환 터렛 (turret) 이 장착되어 쉽게 표본 조작이 가능합니다. 결론적으로, HITACHI RS6000E는 다양한 재료 특성 요구에 이상적인 첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 강력한 검출기, 고급 소프트웨어 패키지 (advanced software package) 및 정확한 결과를 보장하는 다양한 기능이 장착되어 있습니다. 이를 통해 다양한 유형의 서피스 작업 (surface operation) 에서 매우 정확하게 분석하고 정확도를 높일 수 있는 완벽한 툴이 됩니다.
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