판매용 중고 HITACHI NX 2000 #293622849

HITACHI NX 2000은 고급 이미징, 뛰어난 처리량 및 높은 샘플 처리량을 제공하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 SEM을 통해 사용자는 나노 스케일 (nanoscale) 에서 수백 마이크로 미터 (micrometer) 에 이르는 샘플의 표면 형태 및 미세 구조를 관찰 할 수 있습니다. 예를 들어 반도체 웨이퍼를 검사하는 데 특히 유리합니다. 이 전자 현미경은 다양한 이미징, 분석 및 측정 기능, 고해상도 기능, 장기 관찰을위한 큰 작업 거리 (working distance) 를 포함하여 많은 유리한 특징을 가지고 있습니다. 작업거리가 크면 더 큰 샘플을 관찰하고 필요한 경우 컴포넌트 교환 (Exchange of component) 을 수행할 수 있습니다. 이 기계는 또한 100,000X에서 1,000,000X까지 광범위한 배율을 제공합니다. 또한, 이 주사 전자 현미경은 측정하는 동안 오염이없는 환경을 보장하는 매우 높은 진공 장치입니다. 또한, 이 기기는 신호 대 잡음 비율과 감도가 뛰어난 고성능 검출기를 제공합니다. 이렇게 하면 사용자가 보다 정확하고 상세한 이미지를 신속하게 얻을 수 있습니다. 이 현미경에는 고해상도 디지털 이미징 시스템이 장착되어 있습니다. 시스템은 사용자에게 다양한 이미지 캡처 모드 및 이미지 처리 기능을 제공합니다. 이 단위는 또한 두께 (thickness), 입자 결함 (particle defect) 등 샘플의 특정 특성을 식별할 수 있는 자동 분석 소프트웨어를 지원합니다. NX 2000 에서 설계된 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 간단한 컴퓨터 제어 플랫폼을 제공하여 사용자가 일상적인 작업에 신속하게 작업을 설정할 수 있도록 합니다. 이 장치는 또한 원하는 실험을 사용자 정의하기 위한 컨트롤 및 설정에 쉽게 액세스할 수 있습니다. HITACHI NX 2000 (HITACHI NX 2000) 은 가장 발전된 스캐닝 전자 현미경 모델 중 하나이며, 재료 과학 분야의 연구원 및 업계 전문가에게 적합한 도구입니다. 이 단위는 다른 전자 현미경으로 볼 수없는 물질의 미세 구조 (micro-structure of materials) 를 정확하고 자세히 볼 수 있습니다. NX 2000 의 실시간 대화형 환경 (Interactive Environment) 은 표면의 형태와 표본의 미세 구조를 효율적이고 적시에 조사 할 수 있습니다.