판매용 중고 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #126967

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn은 정확하고 자동화된 측정 및 검사를 시작하도록 설계된 전문가입니다. 이 검사는 반도체 사용자에게 단일 웨이퍼 (Wafer) 또는 4 인치 웨이퍼 (Wafer) 작업이든 더 높은 처리량과 향상된 운영 효율성을 제공하기위한 것입니다. Probe 및 Contactor 테스트, Micro-Bump, RF 테스트 및 Probing, Flip-Chip Bump Bonding, Precision Positioning 등 다양한 애플리케이션에 적합한 옵션입니다. 프로버는 최대 크기가 1,540 (W) x 1,760 (D) x 1,660 (H) mm 인 소형 바디를 자랑합니다. 이는 거의 모든 환경에 배치 할 수 있습니다. TEL/TOKYO TEL P 12 XLN 장비는 연락 확인, 확인, IR 드롭 및 Dommon Area Bridging을 포함한 광범위한 테스트를 할 수 있습니다. 또한 동급 최고의 처리량과 시스템 성능을 제공합니다. 이 도구는 뛰어난 동작 범위와 정확도를 가진 프로버 (prober) 구조를 제공합니다. 테이블 면적은 업계에서 가장 큰 것으로, 최대 54.2mm x 54.2mm, 55mm 스트로크를 허용합니다. 또한, 이 장치는 내장 동적 미세 급지대 및 선형 서보 모터를 갖추고 있으며, 이는 고정밀 이동과 뛰어난 정렬 정확도를 만드는 데 기여합니다. 이 프로버 (Prober) 는 또한 새로 개발 된 웨이퍼 체인저 (Wafer Changer) 로 웨이퍼를 고속 장착 및 마운트 해제하여 처리량을 크게 증가시킵니다. 정확도 및 그 이상으로 측정할 수 있습니다. 또한, TOKYO ELECTRON P-12 XLN은 청결을 보장하는 먼지 방지 디자인 (dust-proof design) 을 갖춘 안전한 물개 구조를 통해 프로세스 중 웨이퍼를 잘 보호합니다. 컴퓨터에는 고급 소프트웨어 패키지 (advanced software package) 가 있어 정확도가 높은 완벽한 제어가 가능합니다. 여기에는 여러 가지 테스트 기능, 완전한 컴퓨터 제어 작업 및 매크로 프로그래밍을위한 내장 소프트웨어가 포함됩니다. 또한, 사용자는 상세한 사양과 설명서를 사용하여 제품에 대한 온라인 정보에 액세스할 수 있습니다. 전반적으로 P-12XLn은 자동 측정 및 검사 요구에 적합한 선택입니다. 탁월한 정확성, 높은 처리량, 유연한 운영, 안전한 Wafer 환경을 보장합니다. EMC Prober의 특징과 기능 덕분에 EMC Prober는 다양한 애플리케이션과 업계에 적합합니다 (영문).