판매용 중고 ITC PB500A #141467

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제조사
ITC
모델
PB500A
ID: 141467
Probe card repair and analysis system Computer-controlled Tests and exercises probe card Complete statistical monitoring of probe card performance Planarization, current leakage, and resistance checking Database kept on each probe card for statistical process control.
ITC PB500A 프로버는 강력하고 마이크로 프로세서 제어, 완전 자동화 웨이퍼 프로버입니다. 최대 8 인치, 최대 0.7mm 두께의 웨이퍼를 처리하도록 설계되었습니다. 이 장치는 프로그래밍 가능한 컨트롤러와 완전 전동 프로버 모듈 (fully motorized prober module) 을 갖춘 기본 유닛으로 구성되며, 최대 4 개의 표준 웨이퍼 로드 포트를 수용할 수 있습니다. 로드 포트는 간단한 로드 프로세스를 통해 신속하게 샘플 교환을 수행할 수 있습니다. 이 장비에는 특수 응용 프로그램을위한 수동 로드 포트도 포함되어 있습니다. PB500A (Automated Sample Probing) 는 다양한 Wafer 구성 및 테스트 단계에서 자동화된 샘플 Probe를 수행하여 Wafer 회로를 정확하고 신속하게 포지셔닝하고 측정할 수 있습니다. 이 프로버의 정밀도는 고정밀 리드 스크류 드라이브 모터 (led screw drive motor) 를 사용하여 0.8 미크론의 매우 낮은 백래시 오류를 제공합니다. 스캐닝 시스템은 광학 위치 측정 시스템 (optical position measurement system) 과 자체 포함 레이저 간섭계 (self-contined laser interferometer) 를 사용하여 더욱 향상되었습니다. 이 장치는 자동 프로브 도킹 (Automatic Probe Docking) 을 제공하여 빠른 Probing 조정을 가능하게 하며, 응용 프로그램에 따라 Contact 및 Non-Contact Probe를 포함하여 다양한 유형의 Probing Head를 선택할 수 있습니다. ITC PB500A의 추가 기능에는 프로브 중 안전한 웨이퍼 배치를위한 통합 웨이퍼 처킹 장치 (wafer chucking unit) 와 독특한 공기 베어링 프로브 (air bearing probe) 가 포함됩니다. 에어베어링 머신 (Airbearing Machine) 은 프로브 (Probe) 가 항상 웨이퍼 (Wafer) 와 접촉하도록 설계되었으며, 프로브 프로세스 중에서도 회로를 손상시킬 가능성을 줄이기 위해 설계되었습니다. 이 Prober는 또한 이더넷 (Ethernet) 연결을 제공하며 별도의 PC에서 원격 제어를 제공하여 여러 시스템을 효율적으로 유지 관리하고 제어할 수 있습니다. PB500A는 사전 스캔, 검사, 신호 무결성, 신호 특성, 전기 결함 테스트 등 포괄적인 테스트 라이브러리를 제공합니다. 간단히 말해서, ITC PB500A 는 강력하고 정확한 Prober로서, 높은 수준의 성능과 기능을 갖추고 있습니다. 자동화된 슬라이드 도구 (Slide Tool) 와 정밀 프로브 헤드 (Precision Probe Head) 는 회로를 안정적이고 반복적으로 샘플링합니다. 또한 Prober의 이더넷 연결 (Ethernet connection) 및 리모콘 (Remote Control) 기능은 대규모 애플리케이션 및 대용량 운영 환경에 특히 적합합니다.
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