판매용 중고 ELECTROGLAS 4085X #19607

ELECTROGLAS 4085X Prober는 반도체 장치를 정확하게 측정, 테스트 및 분석하도록 설계된 고급 프로브 및 테스트 장비입니다. 4085X 는 완벽한 통합 시스템으로, 정교한 진단 지원 (diagnostic assistance) 과 함께 고성능 Probing 기능과 자동 테스트 분석 기능을 제공합니다. 자동 DRC/LVS 규칙 점검뿐만 아니라 고속 Probing, 고급 장애 분석, 매핑 (Mapping) 을 활용하여 수익률을 높이고 테스트 비용을 절감할 수 있도록 설계되었습니다. ELECTROGLAS 4085X는 ELECTROGLAS 전용 자동 위치 지정 기능을 기반으로 하며, 이를 통해 빠른 다이 배치 및 정확한 정렬이 가능합니다. 폐쇄 루프 제어 장치 (closed-loop control unit) 는 빠르고 정확한 위치 제어 기능을 제공하는 반면, 통합 자동 채우기 및 조정 머신은 정확한 병렬성을 보장합니다. 이중 헤드 테이프 측정은 추가 정확도를 제공하는 반면, 통합 자동 로드 개선은 다이 면의 최적의 정렬을 보장합니다. 4085X의 검사 및 테스트 시스템은 고속, 고해상도 상호 연결 도구 및 고급 Probe 정렬 에셋 (스캔 기반 테스트, 열 이미징, 신속한 장애 로컬라이제이션 등) 을 갖추고 있습니다. 첨단 장애 분석 모델 (Advanced Fault Analysis Model) 은 장애 위치를 그래픽으로 표시하고, 저전력, 고해상도 테스트 구조는 장치 구조에 대한 포괄적인 테스트를 가능하게 합니다. ELECTROGLAS 4085X는 지능형/규칙 기반 진단 분석 및 보고 기능을 갖춘 포괄적인 진단 지원 장비도 제공합니다. 회로 수준, 다이 패드 레이어, ESD 수준, 내장 진단 및 규칙 점검에 대한 세부 정보를 제공합니다. 또한, 자동 테스트 시퀀싱 시스템을 통해 개별 기판 및 장치를 포괄적으로 테스트 할 수 있습니다. 4085X는 고도의 반도체 테스트 및 분석 장치로서, 반도체 장치를 정확하게 측정, 테스트, 진단하도록 설계되었습니다. 독보적인 자동 포지셔닝 및 정렬 시스템, 고급 프로브 (Probe) 정렬 및 진단 지원 시스템, 저전력, 고해상도 (High-Resolution) 테스트 구조로 반도체 장치의 탁월한, 비용 효율적인 테스트 및 분석에 이상적인 장치로 자리잡았습니다.