판매용 중고 VEECO Contour GT-X3 #9309528

VEECO Contour GT-X3 SPM (Scanning Probe Microscope) 은 다양한 연구 관련 응용 프로그램에 사용되는 고도의 분석 도구입니다. 표면 지형의 나노 스케일 측정, 전기 및 기계 특성, 서브 앵스트롬 해상도 (sub-angstrom resolution) 에서 재료의 분광 영상을 측정할 수 있도록 설계되었습니다. 컨투어 GT-X3 SPM은 나노 미터 스케일 스캔 패턴을 생성 할 수있는 2 개의 압전 스캐너 (각각 이동 범위가 15 발과 150 발로) 를 사용합니다. 이것은 다양한 나노 스케일 재료의 특성을 허용합니다. VEECO Contour GT-X3는 다수의 통합 센서를 갖춘 캔틸레버 (cantilever) 기반 시스템을 사용하여 나노미터 해상도로 전기, 열, 기계 데이터를 수집 할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 가변 온도 조절 기능이 포함되어 있으며, 실온에서 최대 450 ° C까지의 측정이 가능합니다. Contour GT-X3는 직관적인 터치스크린 인터페이스를 통해 데이터 수집 및 분석을 용이하게 합니다. 이를 통해 사용자 정의 스캔 패턴, 현미경 속도 및 측정, 광학 현미경 및 AFM (Atomic Force Microscopy) 과 같은 다중 모달 이미징을위한 레이어 구현이 가능합니다. 이 시스템은 또한 통합 잠금 증폭기 (lock-in amplifier) 및 자동 스테이지 제어 기능을 갖추고 있으므로 정량적 측정에 이상적인 도구입니다. 또한 VEECO Contour GT-X3 SPM은 사용자에게 다양한 Probe 팁 및 캔틸레버를 처리 할 수있는 뛰어난 유연성을 제공합니다. 또한 ProScan (ProScan) 을 비롯한 다양한 소프트웨어 패키지의 통합을 지원하며, 다양한 고급 이미지 옵션을 제공합니다. 최적의 성능을 위해 Contour GT-X3 SPM은 주기적으로 서비스 및 보정됩니다. 여기에는 마모와 눈물로 인해 종종 손상되는 컴포넌트 (component) 를 교체하는 작업이 포함됩니다. VEECO 기술 직원은 이러한 절차를 수행하는 데 경험이 풍부하며, 사용자에게 품질 보증을 제공할 수 있습니다. 전반적으로 VEECO Contour GT-X3는 앙스트롬 이하의 해상도로 나노 스케일 (nanoscale) 기능을 조사하려는 연구 및 산업 전문가를위한 이상적인 도구입니다. 그 해상도는 캡처 된 스캔에서 전례없는 정확성을 허용하여 나노 과학 (Nanoscience) 또는 나노 기술 (Nanotechnology) 연구 또는 기업을위한 귀중한 도구입니다.