판매용 중고 JEOL JWS 7505 #9131751

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ID: 9131751
Transmission electron microscope.
JEOL JWS 7505 (JEOL JWS 7505) 는 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 전자의 집중 빔을 사용하여 표면의 고해상도 이미지를 만듭니다. 7505에는 가속 전 전압을 줄이고 최적화된 이미징을 위해 2 차 배출량을 향상시키는 고해상도 FEG (field emission gun) 가 장착되어 있습니다. 또한, 7505는 여러 SEM 이미지 슬라이스를 획득하여 3D 재구성을 만드는 데 사용될 수 있으며, 정량적 측정의 정확성과 하드-투-이미지 샘플의 이미징을 증가시킵니다. 또한 SEM (최첨단 소프트웨어 패키지) 은 사용자가 작업 거리 및 초점 응축기 렌즈 조정, 자동 기능 프로그래밍 등 현미경의 모든 기능을 제어할 수 있도록 하는 최신 소프트웨어 패키지를 포함합니다. 7505는 또한 이미지 획득 및 분석 (예: 빠른 이미지 획득, 자동 측정) 을 지원하여 가속 전압 (Acceleration Voltage), 작동 전류 (Operational Current) 와 같은 매개변수를 신속하게 결정하여 보다 정확한 이미징을 제공합니다. 7505에는 3 개의 선형 축 (X, Y, Z) 과 2 개의 회전 축 (기울기 및 회전) 으로 구성된 5 축 동력 스테이지가 장착되어 있습니다. 회전 축은 MPI (multi-parameter imaging) 이미지를 생성하는 데 사용할 수 있으며, 기울기 축은 입사각을 정확하게 제어할 수 있습니다. 스테이지는 또한 안정적인 온도가 필요한 샘플에 대해 활성 온도 조절 시스템을 제공합니다. 또한 7505에는 고대비 (high contrast) 샘플의 이미지를 제공하는 다양한 이미징 검출기가 장착되어 있습니다. 이 검출기는 역 산란 전자, 2 차 전자, 반사 전자 및 합금, 역 산란 신호를 감지합니다. 또한, 검출기는 샘플에서 화학적 (chemical) 정보와 물리적 (physical) 정보를 모두 집어 더 명확한 이미지를 제공 할 수 있습니다. 7505에는 또한 2 차 전자와 백스캐터링 된 전자를 동시에 감지 할 수있는 선택적 조합 검출기 (combination detector) 가 포함되어 있습니다. 마지막으로, 7505는 고각 이미징의 경우 60 ° 기울기, 왜곡을 일으키지 않고 가변 압력 환경의 이미지를 얻기 위한 가변 압력 렌즈 (variable pressure lenses) 와 같은 다양한 기능을 제공합니다. 7505는 또한 넓은 시야를 제공하여 더 큰 샘플 분석을 허용하고, 에너지 분산 분광법 (EDS) 기능을 통해 이미징 외에도 원소 분석을 허용합니다. 이러한 기능의 조합으로 인해 JEOL JWS-7505는 이미징 및 분석을위한 강력하고 다양한 도구가 됩니다.
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