판매용 중고 NANOMETRICS M-215 #9121885

NANOMETRICS M-215 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 집적 회로 생산에 앞서 레티클, 마스크, 웨이퍼에 대한 빠르고 신뢰성 있는 자동 결함 검사를 제공하기 위해 설계되었습니다. 이 시스템은 정확하고 반복 가능한 결과를 제공하므로 제조업체가 마스크 (Mask) 와 웨이퍼 (Wafer) 의 결함이 가장 작습니다. 이 장치는 최대 5.5 미크론 스캔 해상도와 5 미크론 미크론 이미지 확대가있는 고해상도 이미징을 제공합니다. 서브 미크론 결함을 감지하는 기능은 최고의 마스크 및 웨이퍼 품질을 보장합니다. M-215는 6x6 인치 시야로 넓은 영역을 신속하게 검사하여 최대 0.08 평방 인치/초의 스캔 속도를 달성할 수 있습니다. 이 속도 는 "레이저 '가 검사 구역 을 신속 히 재분석 할 수 있게 해 주는 광학 교량 을 갖춘 기계 의 특허 설계 덕분 에 가능 한 것 이며, 그 보다 훨씬 적은 단계 를 밟을 수 있다. 세계적 수준의 이미징 기능 외에도, NANOMETRICS M-215 는 고급 결함 분류 기능을 제공하며, 이를 통해 개별적으로 결함을 빠르고 정확하게 파악할 수 있습니다. 이 도구는 동적 임계값 (dynamic threshold) 자산을 사용하여 마스킹과 우발적 결함을 실시간으로 식별할 수 있습니다. 이 모델에는 강력한 결함 분석 모듈 (Powerful Defect Analysis Module) 이 포함되어 있어 결함 분석 결과를 더욱 구체화할 수 있습니다. 이 모듈은 정교한 소프트웨어 툴과 결합되어, 결함 데이터를 효율적으로 분석, 분류할 수 있습니다. M-215는 안정성이 뛰어나며, 거의 유지 보수 작업을 무료로 수행할 수 있습니다. 여기에는 온도 조절 광학 장치 (temperate controlled optics unit) 가 포함되어 있으며, 주변 온도에 관계없이 이미징에 대한 최적의 온도를 유지합니다. 장비 내 조정은 시간에 따라 일관된 속도와 성능을 보장합니다. NANOMETRICS M-215 는 사용이 간편하며, 초보자 사용자조차도 시스템을 빠르고 조금씩 구성하고 운영할 수 있는 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공합니다. 또한 검색/필터링 (search/filtering) 옵션을 통해 관심 영역을 신속하게 격리하고 사용자 효율성을 높일 수 있습니다. 마지막으로 M-215 는 장기적인 안정성을 위해 설계되었으며 0.1% 의 오차율로 엄격한 품질 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. '장기 안정성' 을 통해 수년에 걸친 '문제 없음 (Trouble-free)' 운영을 보장함으로써 제조업체들은 최고의 품질 수준과 가장 일관된 결과를 얻을 수 있습니다.