판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9256560

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment는 반도체 제조 및 기타 관련 산업에서 전반적인 생산 수익률, 처리량 및 품질을 향상시킬 수 있도록 설계된 포괄적인 고출력 솔루션입니다. 이 시스템은 고급 광학 인식 (Optical Recognition) 과 이미징 (Imaging) 을 활용하여 반도체 패턴을 정확하게 분석하고 잠재적 결함을 확인할 수 있습니다. 이 장치는 느리고 빠르게 움직이는 결함을 신속하게, 정확하게 감지하여 검사 프로세스를 최적화하도록 설계되었습니다. 이것은 반복 가능한 결과를 제공하도록 구성 될 수있는 여러 동적 검사 시퀀스 (dynamic inspection sequence) 를 통해 수행됩니다. 기계의 기능에는 고급 이미지 기반 결함 감지 알고리즘 (Felect Detection Algorithm) 과 고급 결함 검사 기법 (Advanced Defect Inspection Technique) 이 모두 포함됩니다. 이 툴은 웨이퍼 (wafer) 검사에 대한 자동화된 실시간 접근 방식을 제공하며, 안정적이고 반복 가능한 분석 결과를 제공합니다. AMAT의 Mask & Wafer Inspection Asset에는 고해상도 디지털 이미징 모델과 디지털 이미지 개선 기술이 포함되어 있습니다. 이를 통해 매우 정밀한 패턴 검사, 결함 감지, 컴포넌트 값 측정이 가능합니다. 자동화된 기능 인식 및 분석을 통해, 장비는 신속하게 이상 또는 결함을 식별할 수 있습니다. 또한 고급 정렬 (Advanced Alignment) 및 수정 (Corrections) 기능을 통해 예리한 모서리와 매우 민감한 구조로 패턴을 효과적으로 분석할 수 있습니다. 이 장치는 또한 강력한 모서리 감지 (edge detection) 기능을 제공하여 원하는 패턴을 인식하고 격리할 수 있습니다. 또한 기계는 항동 검사 기능으로 설계되었습니다. 여기에는 파이크, 마모, 곰팡이 성장과 같은 일반적인 환경 오염 물질에 대한 웨이퍼 분석이 포함됩니다. 이 툴은 이러한 기능 외에도, 생산성 향상, 비용 절감을 위해 수작업 스캐닝 (manual scanning) 의 필요성을 없애 검사 시간을 단축하는 데 도움이 됩니다. APPLIED MATERIALS의 Mask & Wafer Inspection Asset은 전체적으로 생산 수익률 및 제품 품질을 향상시키기 위해 설계되었습니다. 이 모델은 신속하고, 정확하며, 반복 가능한 검사 성능을 제공함으로써, 생산주기 초기에 결함 또는 결함이 있는 장치를 식별하고 교체하여 생산량 향상, 효율성 향상, 비용 절감 등의 가능성을 높입니다.