판매용 중고 STRUERS Tenupol 3 #126425

STRUERS Tenupol 3은 전자 현미경 (electron microscopy) 에 대한 샘플 준비에서 뒷면 공동 청소 (back-side cavity cleaning) 에 이르기까지 광범위한 응용 분야에 사용되는 이온 밀링 장비입니다. 이 고급 시스템은 고르지 않은 표면에서 샘플의 극도로 정확한 서브 마이크로 미터 머시닝 및 연마 (polishing) 를 가능하게합니다. 그것 은 매우 다양 한 재료 들 에 대하여, 높은 정확도 와 반복성 을 지닌 "마이크로 머시닝 '(micromachining) 을 지닌 정밀 한" 마이크로 머시닝' (micromachining) 을 위하여 설계 되었으며, 깊은 동굴 과 섬세한 특징 을 만들어 낼 수 있다. Tenupol 3은 이온 입자의 빔을 사용하여 높은 운동 에너지로 가속됩니다. 이 가속 빔 (accelerated beam) 은 표면에서 재료를 가속 속도로 침식시키는 데 사용되므로 샘플 재료를 정확하고 효율적으로 제거 할 수 있습니다. 이 이온 빔 (ion beam) 은 미리 정의된 코스를 따라 빔을 안내하도록 설계된 정밀 모양의 템플릿에 의해 안내되며, 샘플 재료를 드릴, 형태, 자르기 위해 사용할 수 있습니다. STRUERS Tenupol 3은 컷 깊이, 입자 크기, 가속, 가속 전압 등 이온 밀링 공정의 품질을 제어하는 다양한 작동 매개변수를 제공합니다. Tenupol 3은 이온 빔 (ion-beam auto-focusing unit) 과 같은 고급 기능을 제공하여 이온 빔의 매끄럽고 제어 된 움직임을 보장합니다. 이렇게 하면 서피스의 곡률 (curvature) 이나 밀링 크기 (size) 에 관계없이 빔의 정밀한 위치 및 방향을 지정할 수 있습니다. 이온 빔 (ion beam) 에는 냉각 장치도 장착되어 있어 과열 위험 없이 장시간 작동이 가능합니다. STRUERS Tenupol 3은 안전하고 간단한 운영을 위해 설계되었으며, 대부분의 실험실 환경에 쉽게 통합 될 수 있습니다. 간편한 사용자 인터페이스와 다양한 안전 기능 (자동 (Automatic) 컷오프 (Cut-off) 머신과 최적의 작동을 위한 조정 가능한 매개변수 등) 을 갖추고 있습니다. 이 도구는 또한 에너지 효율성 (energy efficient) 을 갖추도록 설계되었으며, 최소한의 전력을 소비하며, 이는 에너지 액세스가 제한된 실험실에 이상적입니다. 전체적으로, 테 누폴 3 (Tenupol 3) 은 고르지 않은 표면에서도 엄청나게 세밀하고 정확한 모양을 생성 할 수있는 고급 이온 밀링 자산입니다. 이 모델은 다양한 운영 매개변수 (operating parameters) 와 안전 (safety) 기능을 통해 실험실 설정의 고정밀 프로세스에 이상적입니다.