판매용 중고 TERADYNE J750 #9186088

테라 딘 J750 (TERADYNE J750) 은 제조 주기 전반에 걸쳐 테스트 프로세스의 효율성과 정확성을 향상시키기 위해 특별히 제작 된 고급 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 사전 심사부터 EOL (End-of-Line) 테스트까지 포괄적인 테스트 범위를 달성할 수 있도록 설계되었으며, 다양한 통합 디버그 옵션뿐만 아니라 효율적인 프로그래밍 기능을 제공합니다. 자동 테스터는 듀얼 프로세서 아키텍처 (Dual Processor Architecture) 에 의해 구동되며, 더 높은 수준의 장치 성능을 제공하며, 최대 16 개의 고속 디지털 머신 보드를 한 번에 처리하여 디지털 시스템의 빠른 테스트를 보장하도록 설계되었습니다. 이 도구는 퓨전 (fusion) 과 개방형 회로 (open circuit) 를 감지하고 진단하고 다양한 테스트 유연성을 제공하는 고급 소프트웨어 알고리즘으로 인해 테스트 결과의 정확성이 더욱 높아집니다. TERADYNE J 750은 또한 여러 메모리 프로그래밍 가능성, 개별 모듈의 동시 프로그래밍 등 다양한 고급 프로그래밍 기능을 제공합니다. J750 EPS 고급 프로그래밍 소프트웨어 및 J 750 독립형 프로그래밍과 같은 다양한 프로그래밍 옵션을 사용할 수 있습니다. 점수 (Scoring) 기능은 디버깅 및 보고 기능을 한층 강화합니다. 즉, 정보 의사 결정을 지원하는 복잡한 프로그래밍 뷰를 생성하는 데 도움이 됩니다. 또한, 이 자산에는 실시간 데이터 수집 및 보고 (reporting) 용량이 포함되어 있어 엔지니어와 기술자가 테스트 결과를 면밀히 모니터링하고 분석할 수 있습니다. 이 모델에는 포괄적인 보고서 마법사, GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 및 내장형 디스플레이 소프트웨어가 장착되어 있어 데이터를 시각화하고 분석할 수 있으며, 제조 결함을 보다 빠르고 정확하게 파악할 수 있습니다. 또한 TERADYNE J750 은 확장성과 업그레이드 기능을 제공하므로 향후 추가 기능 및 확장이 가능합니다. 또한 내장된 자동 결함 진단 (Automated Defect Diagnostics), 부품 스트레스 테스트 (Part Stress Testing) 등의 다양한 통합 디버그 옵션과 도구를 제공합니다. TERADYNE J 750 은 모든 제조 환경에서 효율적인 테스트/결함 진단을 위한 강력하고 포괄적인 솔루션을 제공합니다. 고급 알고리즘과 실시간 데이터 분석 (Real Time Data Analysis) 기능을 활용하여 빠르고 정확한 장애 감지 기능을 통해 테스트 시간을 단축하고, 제품 생산량을 높이고, 기한을 좁힐 수 있습니다. 통합된 기능, 유연성 및 확장성으로 인해 J750은 오늘날의 경쟁력 있는 글로벌 시장에서 EOL (End-of-Line) 테스트를 위한 최적의 선택이 됩니다.