판매용 중고 ROHDE & SCHWARZ CTS 30 #9050076

ROHDE&SCHWARZ CTS 30은 전자 부품을위한 고급 테스터이며, 특히 반도체 및 집적 회로를 테스트하도록 설계되었습니다. 테스트/평가를 위한 다양한 정확하고, 반복 가능하며, 신뢰할 수 있는 진단/분석 소프트웨어 툴을 제공하며, 특성화와 검증을 위한 광범위한 구성요소 테스트 데이터를 제공합니다 (영문). CTS 30 은 구성 요소의 고속 스캐닝 및 특성화로, 회로 기판 및 구성 요소의 성능을 파악하고 최적화하는 데 도움이 됩니다. ROHDE&SCHWARZ CTS 30에는 디지털 오실로스코프, 디지털 신호 프로세서 (DSP), 통계 프로세서, 원격 I/O 제어 및 소프트웨어 라이브러리를 포함한 광범위한 분석 도구가 장착되어 있습니다. 오실로스코프 (Oscilloscope) 는 일시적인 신호의 캡처 및 분석을 허용하는 반면, DSP는 시간 및 주파수 특성의 조작 및 분석을 허용합니다. 또한, 통계 프로세서는 일시적 분석에서 통계 데이터를 정량화하고 향상된 파형 (waveform) 분석을 제공합니다. CTS 30은 일시적인 테스트, 주파수 테스트, 직류 (DC) 바이어스 및 TD (Time Domain) 테스트를 포함한 다양한 구성 요소 테스트 기능과 도구를 제공합니다. 일시적 테스트 (Transient test) 는 컴포넌트가 환경의 갑작스런 변화에 대한 응답을 평가하는 반면, 주파수 테스트 (Frequency Test) 는 컴포넌트의 주파수 응답을 측정합니다. DC 바이어스 (bias) 는 컴포넌트의 작동 지점을 테스트하고 TD 테스트는 컴포넌트의 스위칭 일시에 대한 자세한 통찰력을 제공합니다. ROHDE&SCHWARZ CTS 30은 매개 변수 추정, 시간 편차, 고조파 왜곡 및 시간 도메인 분석과 같은 추가 테스트 기능을 제공합니다. 자동 테스트를 위해 CTS 30은 포괄적인 테스트 제어 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 이를 통해 사용자는 테스트 및 매개변수 설정의 시퀀스를 프로그래밍할 수 있으며, 고정장치, 프로브 (Probe) 및 기타 전자 부품 (Electronics Component) 을 제어할 수 있습니다. 또한 외부 장치에 연결하고 외부 시스템에서 ROHDE&SCHWARZ CTS 30을 제어하기위한 다양한 통신 프로토콜 (예: I2C, Serial 및 USB) 을 제공합니다. CTS 30은 도량형, 열 매핑, 신호 무결성 등 구성 요소 특성 및 통합을 완벽하게 지원합니다. 또한 최대 10 개의 열 큐브와 최대 1Gbps (Gigabit/per second) 테스트 대역폭의 열 측정을 지원합니다. ROHDE&SCHWARZ CTS 30은 고급 회로 설계, 통합 및 측정을 위해 광범위한 옵션과 구성 요소를 제공합니다. CTS 30은 최대 12 비트의 해상도로 인상적인 정확도를 제공합니다. 또한 특허를받은 xy 샘플링 기술을 갖추고 있으며, 신호 분석에 초당 최대 1G 의 샘플링 속도를 제공합니다. 또한 ROHDE&SCHWARZ CTS 30에는 사용자와 테스트 장비를 손상으로부터 보호하기 위해 설계된 다양한 내장 안전 기능이 포함되어 있습니다. 요약하자면, CTS 30 은 첨단 전자 테스트 툴로서, 전자부품 (electronic component) 을 분석하고 특성화할 수 있는 광범위한 기능과 툴을 제공합니다. ROHDE&SCHWARZ CTS 30은 포괄적인 분석 및 테스트 기능을 통해 구성 요소 및 회로 보드의 성능을 정확하고, 안정적으로 식별하고 최적화할 수 있습니다. 또한, CTS 30은 매우 정확하고 안전하며, 사용자가 쉽게 테스트, 분석할 수 있는 안전한 환경을 제공합니다.