판매용 중고 ADVANTEST R3765CH #9030222

ADVANTEST R3765CH는 다양한 구성 요소 및 조립된 PCB에서 테스트를 수행하도록 설계된 고급 전자 테스트 장비 (ATE) 입니다. 대용량 운영 환경을 위해 특별히 설계되었으며, 최첨단 기술을 활용하여 테스트 범위를 극대화합니다. R3765CH는 강력한 사용자 인터페이스와 사용하기 쉬운 고성능 테스트 어플리케이션을 위한 직관적인 테스트 인터페이스를 결합했습니다. 이 제품은 보드 당 최대 100 개의 신호, 멀티-ppm 고속 테스터 주소 지정 간격 및 대기 시간 테스트, 통계 분석에 기초한 수정 (correction) 을 적용하는 볼륨 테스트 (volumetric test) 방법을 갖춘 고도로 자동화 된 시스템으로 제작되었습니다. 또한 2GHz HSS (High-Speed Scan) 및 20비트 ROM 메모리를 통합하여 매우 정확한 테스트 측정이 가능합니다. 이 장치는 최신 내장형 마이크로프로세서 (microprocessor) 기술을 사용하여 임베디드 메모리에 대한 테스트 프로그램을 생성합니다. 또한 ODB, P01, ICSP 및 CFI-MT01과 같은 3 개의 프로그래밍 가능한 연결 포트를 제공하여 다른 제조 시스템에 통합 할 수 있습니다. 이 장치는 ASDC (Advanced Signal Distribution Control) 시스템을 통해 맞춤형 구성을 통해 다양한 테스트 시나리오의 요구를 충족합니다. 장점 R3765CH는 TTL, CMOS, AC 드라이브, 디지털 논리 등 다양한 테스트 기능을 수행할 수 있습니다. 전용 신호 출력 채널, 인터페이스 I/O 포인트 및 고급 BIP (Bus Interface Protocol) 의 조합으로, 향상된 테스트 범위와 향상된 복잡한 신호 분석 및 패턴 인식 기능을 제공합니다. 이를 통해 테스트는 단일 스캔 패턴을 구성하고, 복잡한 회로 경로의 규정 준수를 확인하고, 동일한 네트에서 여러 패턴 유형을 실행할 수 있습니다. 또한 R3765CH는 USB, 직렬, 이더넷, GPIB와 같은 다양한 연결 표준을 지원하여 뛰어난 연결 유연성을 제공합니다. 또한 내장 다중 채널 전원 분석이 포함되어 있습니다. 즉, 전압, 전류 및 전력 측정을 동시에 수행 할 수 있습니다. 고급 검색 알고리즘을 사용하면 디바이스에서 빠르고 정확한 장애 위치를 지정할 수 있습니다. 장점 R3765CH (ADVANTEST R3765CH) 는 R3760H 테스터의 성공을 위한 강력하고 검증된 기능으로, 전자 테스트 실험실을 위한 탁월한 선택입니다. 이 ATE 는 정밀도가 높은 테스트 정확성과 다용성을 자랑하며, 다른 소프트웨어 테스트 툴과의 포괄적인 통합을 자랑합니다. 대용량 생산 환경에 이상적인 선택입니다.