판매용 중고 RIGAKU 3640 XRF #9114367

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ID: 9114367
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1998
Wafer / Disk analyzer, 8" Without handler Sensor element: Cu / Ru / Ir / Ni / Co / Fe / Ta / Cr 1998 vintage.
RIGAKU 3640 XRF는 RIGAKU에서 사용할 수있는 고성능 XRF (X- 선 형광) 분광계입니다. XRF 장비는 가벼운 요소, 특히 까다로운 현장 어플리케이션에서 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템은 금속, 미네랄, 중합체 및 기타 물질을 포함한 다양한 물질에서 탄소 (C) 및 황 (S) 과 같은 가벼운 원소의 분석을 다룹니다. 3640 XRF는 타원형 x- 선 소스에서 전달되는 높은 밝기, 균질 한 X- 선 빔으로 작동합니다. 이 소스는 낮은 스트레이 필드와 낮은 x-ray 배경 방사선을 갖춘 안정적인 x-ray 빔을 제공합니다. 이 소스에는 빔의 지속적인 모니터링 및 유지 관리를 제공하는 내부 냉각 장치 (internal cooling unit) 가 장착되어 있습니다. 이 시스템에는 고성능 및 데이터 수집을 위한 고급 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 또한 소프트웨어 기능에는 샘플 확인, 자동 데이터 획득, 히스토그램 생성, 테스트 결과 검토, 데이터 로깅 등이 있습니다. 통합 도구 설계를 통해 사용자의 개입을 최소화하면서 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. 성능과 관련하여, RIGAKU 3640 XRF는 탐지 제한이 적은 반복 가능한 측정을 달성하는 분석 기능으로 정밀하게 설계되었습니다. 뛰어난 해상도, 감도 및 신호 대 잡음비를 제공합니다. 에셋의 광범위한 동적 범위 (dynamic range) 는 낮은 농도와 높은 농도의 요소를 분석 할 수 있습니다. 또한, 이 모델에는 정확도가 높은 여러 요소를 동시에 측정 할 수있는 우연성 창문 (coincidence windowing detector) 이 장착되어 있습니다. 3640 XRF는 견고하고 안정적으로 설계되었습니다. 이 장비는 강력하고 인체공학적으로 설계된 인클로저 (enclosure) 에 장착되어 있어 충격과 진동 보호 기능이 뛰어납니다. 또한, 시스템은 회전 동작 제어 샘플 홀더, 고체 각도 광학이있는 광학 방출 분광학 (OES) 액세서리, 가스 샘플 흡기 및 전기 화, 광섬유 프로브 부착물과 같은 다양한 액세서리와 통합됩니다. 전반적으로 RIGAKU 3640 XRF는 고급 X- 선 형광 장치입니다. 이 제품은 까다로운 현장 환경에서 다양한 경량 요소 분석 (light element analysis) 애플리케이션을 위해 설계되었습니다. 기계의 고성능, 정확성, 정확성, 신뢰성 있는 작동은 모든 실험실에 필수적인 도구입니다.
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