판매용 중고 SSM 470i #160237

Cascade Microtech의 SSM 470i 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 업계 최고의 반도체 테스트 및 장애 분석 기능을 제공하는 차세대 설계 및 검증 워크스테이션입니다. 이 시스템은 비용 효율적인 고성능 솔루션을 제공하면서 가장 까다로운 테스트, 측정, 분석 요구 사항에 최적화되어 있습니다. 일관성 있는 정확성과 반복성을 제공하도록 설계된 이 제품은 최대 4,200 켈빈 (Kelvin) 의 온도 테스트 기능을 제공하며, 정확한 200ms 유지 시간을 제공합니다. 470i는 SOI, SiGe, BV/FET 및 복합 반도체, GaAs 및 기타 신흥 기술을 포함하여 다양한 기술을 위해 설계되었습니다. 이 제품은 칩 (chip) 과 패키지 (package) 에서 장치 (unit) 수준으로 설계 통합을 지원하며 정확한 특성화 기능을 통해 효율적인 테스트와 생산성 최적화를 지원합니다. SSM 470i 는 고객의 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 툴과 함께 사용자 정의가 가능합니다. 시스템 유연성 (Flexible) 아키텍처는 테스트 프로그램 개발, 유지 보수, 실행에 대한 최신 고급 문제 해결 방법과 사용자 제어 기능을 제공합니다. 470i는 광범위한 웨이퍼 프로브 및 도량형 기능을 제공합니다. 이 도구에는 QA-370i Test Controller, QA-370ii Test Controller 및 MT-370 Test Programmer와 같은 통합 하드웨어 및 소프트웨어 패키지도 포함되어 있습니다. 이 자산의 독보적인 데이터 획득/분석 기능은 광범위한 애플리케이션에서 데이터 정확성과 반복 (repeatability) 을 향상시켜 줍니다. 또한 SSM 470i에는 강력한 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 가 장착되어 있어 작동이 쉽고 사용이 간편합니다. 광범위한 고성능 소프트웨어 툴과 통합되어 있으며, 자동 테스트 프로그램, 데이터 수집, 데이터 분석, 통계 분석 기능 등을 제공합니다. 470i의 소프트웨어 도구를 사용하여 모든 유형의 테스트 프로그램을 쉽게 만들 수 있습니다. 이 모델은 모든 프로브 카드 (Probe Card) 와 챔버 (Chamber) 에 대한 처리량이 높아 운영자 오류가 줄어들고 번거로운 테스트 프로그래밍을 위한 자동 정렬이 가능합니다. 이 장비는 또한 뛰어난 안정성과 반복성 (repeatability) 을 제공하여 일관성 있는 테스트 결과를 제공합니다. SSM 470i 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 시스템 (metrology system) 은 효율적인 설계, 고급 기능 및 구성 옵션을 통해 모든 반도체 테스트 및 장애 분석 요구 사항에 적합한 솔루션입니다.