판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193450

ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600은 오늘날의 주요 반도체 제조업체의 요구를 충족시키기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 획기적인 시스템은 성능, 정확성, 반복성의 강력한 조합을 제공하여, 웨이퍼 (Wafer) 제조업체가 가장 엄격한 요구 사항을 충족하고 비용을 크게 절감할 수 있게 해 줍니다. ADE UltraScan 9600 은 포괄적인 솔루션으로 결합된 구성요소로 구성됩니다. 여기에는 고급 전체 필드 CCD 컬러 카메라, 이미징 평가 장치, 분석 디스플레이 기계, Ultrascan 이미징 프로세서 및 자동 결함 검사 시스템이 포함됩니다. CCD 카메라 (CCD Camera) 는 빠른 속도와 해상도로 샘플 서피스의 이미지를 캡처하는 고유한 기능을 제공하는 반면, 이미징 평가 자산 (Imaging Evaluation Asset) 은 서피스 텍스처와 웨이퍼 지형의 실시간 분석 및 비교를 제공합니다. 분석 디스플레이 모델 (Analysis Display Model) 은 연산자가 다양한 복잡한 이미지를 탐색하는 반면, 이미징 프로세서 (Imaging Processor) 는 이미지를 분석하여 샘플의 가장 작은 기능조차도 정확하게 감지하고 특성화합니다. 자동 결함 검사 기계 (Automatic Defect-Inspection Machine) 는 소형 결함을 식별하고 특성화하기 위해 웨이퍼 서피스를 자동으로 분석하는 수단을 제공합니다. KLA ULTRA SCAN 9600에는 광범위한 연결 옵션도 있습니다. 이더넷, 직렬 포트, USB 등 다양한 원격 인터페이스와 장거리 지원 및 제어를 위한 안전한 원격 액세스를 지원하는 이더넷 (옵션) 접속 (옵션) 을 통해 통신합니다. 또한 TENCOR UltraScan 9600 에는 모든 설정 및 기능을 쉽게 탐색할 수 있는 사용자 인터페이스가 제공됩니다. 이 인터페이스 용량에는 최상의 이미징 모드 선택, 이미지 해상도 조정, 색상 컨트롤 선택, 출력 파일 관리, 장비 재보정 (필요한 경우) 등이 포함됩니다. ADE/KLA/TENCOR ULTRA SCAN 9600은 탁월한 속도와 정확도로 웨이퍼를 분석 할 수 있습니다. 공정 통제 (process control) 에서 결함 분석에 이르기까지, 이 시스템은 빠르게 움직이는 반도체 산업의 모든 요구를 충족시키는 솔루션을 제공합니다. 탁월한 성능, 유연성, 경제성을 갖춘 이 제품은 모든 Wafer Testing 및 Metrology 애플리케이션에 이상적인 솔루션입니다.