판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193449

이 품목은 이미 판매 된 것 같습니다. 아래 유사 제품을 확인하거나 연락해 주십시오. EMC 의 숙련된 팀이 이 제품을 찾을 수 있습니다.

ID: 9193449
웨이퍼 크기: 8"
Wafer metrology system, 8".
ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600은 반도체 테스트 및 제조 프로세스에 사용되는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 다양한 최첨단 검사, 이미징, 분석 소프트웨어 패키지를 결합하여 최고의 품질 테스트 결과를 제공합니다 (영문). 이 시스템은 웨이퍼의 테스트 및 측정에서 가장 높은 수준의 신뢰성과 정확성을 제공하도록 설계되었으며, 실리콘 웨이퍼, 복합 반도체 웨이퍼, 복합 반도체 웨이퍼 (compound semiconductor wafer), 인슐레이터 (SOI) 웨이퍼. ADE UltraScan 9600 은 다양한 하드웨어/소프트웨어 구성요소를 활용하여 가장 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 웨이퍼 테스트 및 도량형 기능에는 광 임계 치수, 입자 특성, 응력 프로파일, 오버레이, 재료 구성 및 광 프로파일 측정이 포함됩니다. 이러한 측정값은 성능 문제를 파악하고 해결하는 데 분석 (analying) 되어 사용되며, 이로 인해 결국 제품 성능이 향상되고 최적화가 이루어질 수 있습니다. 고급 이미징/분석 소프트웨어 패키지를 사용하면 결과를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. 이 장치는 레이저 패턴, 결함 검사, 정적 결함 이미징, 동적 결함 이미징 등 포괄적인 결함 감지 기능을 제공합니다. 이를 통해 마이크로 및 나노 스케일 구조, 입자, 패턴, 결함, 프로세스 유도 모양 등 다양한 결함을 감지 할 수 있습니다. 광학 웨이퍼 검사 (Optical Wafer Inspection) 기능은 전체 웨이퍼의 정밀 시각화를 허용하며, 고급 이미징 알고리즘은 웨이퍼 (Wafer) 의 전체 표면에 대한 입자 크기와 배치 비율을 분석하는 데 사용됩니다. KLA ULTRA SCAN 9600은 업계 표준 PC 플랫폼과의 완벽한 호환성을 제공하며, 사용자는 시스템을 특정 요구에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 이 기계는 기존 사내 장비와 통합될 수 있으므로 기존 인프라를 활용하여 효율성, 정확성을 극대화할 수 있습니다 (영문). 소프트웨어 구성요소 (Software Component) 는 사용자가 테스트 결과를 저장, 공유할 수 있는 상세한 보고 기능을 제공하며, 보고서를 다양한 타사 시스템으로 익스포트하여 추가 분석을 수행할 수 있습니다. TENCOR ULTRA SCAN 9600 도구는 웨이퍼 테스트 및 도량형을 위한 포괄적인 솔루션을 제공하여 탁월한 정확성과 안정성을 제공합니다. 이 자산은 다용도 검사, 분석, 이미징 (Imaging) 기능을 통해, 제품의 성능과 생산량을 최적화하기 위해 필요한 모든 운영 라인에 적합합니다.
아직 리뷰가 없습니다