판매용 중고 ACCRETECH / TSK / XANDEX B010 #9188540

ACCRETECH/TSK/XANDEX B010은 반도체 웨이퍼에 대한 정확하고 반복 가능한 측정을 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 레이저 간섭법 (Laser Interferometry) 과 전자빔 감지 기술 (Electron Beam Sensing Technologies) 을 모두 장착하여 종합적인 웨이퍼 레벨 테스트 기능을 제공합니다. TSK B010은 레이저 간섭계를 사용하여 웨이퍼 치수를 정확하게 측정합니다. 간섭계로 얻은 결과의 정확성은 나노 미터 (nanometer) 순서이며, MEMS, 나노 전자 (Nano Electronics) 및 기타 정밀 부품과 같은 응용 분야에 사용될 때 웨이퍼 테스트에 이상적입니다. 또한 3 차원 이미징 모드를 통해 웨이퍼 구조와 모양을 측정하고 분석 할 수 있으며, 기존 방법보다 더 정확한 데이터를 제공합니다. XANDEX B010은 웨이퍼 테스트를 위해 고성능 전자 빔 (EB) 감지 시스템도 제공합니다. 이는 정확한 컨투어, 변위 및 필름 두께 측정을 위한 추가 기능을 제공합니다. EB 장치는 또한 낮은 샘플 오염 수준을 유지하고 충전 (charging) 또는 길 잃은 전자 (stray electron) 로 인한 인공물을 감소시키는 진공기를 갖추고 있습니다. ACCRETECH B010 에서 측정을 받으려면, 이 툴은 통합 이더넷 연결을 통해 컴퓨터에 연결됩니다. 또한 테스트 데이터 분석 및 아카이빙을 위한 소프트웨어 패키지 (옵션) 를 제공합니다. 일관된 측정을 위해 B010은 종합적인 제어 기능을 사용하여 샘플 온도, 포지셔닝, 노출 등을 조절합니다. 또한 설계는 매우 구성 가능하여 특정 센서 (sensor) 와 테스트 시스템 (testing system) 을 필요에 맞게 통합할 수 있습니다. 결론적으로 ACCRETECH/TSK/XANDEX B010은 매우 정확하고 반복 가능한 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산으로, 반도체 산업의 다양한 응용 분야에 적합합니다. 정교한 레이저 간섭법 (Laser Interferometry) 과 전자빔 감지 기술 (Electron Beam Sensing Technologies) 을 통해 정확한 측정이 가능하며, 통합 이더넷 연결 및 소프트웨어 패키지 (옵션) 를 통해 데이터를 쉽게 분석하고 아카이빙할 수 있습니다. 또한 TSK B010 은 일관된 측정을 보장하기 위해 구성 가능한 제어 기능을 제공하여 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다.