판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR 8300 #9162879

ADE/KLA/TENCOR 8300은 이미지 처리, 검사, 검토 및 분석을위한 고유한 기능을 결합한 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 대규모 이미징 (Imaging over Large Area) 이나 까다로운 반도체 어플리케이션 등 복잡한 이미징 작업에 탁월한 센서 성능을 제공합니다. ADE 8300은 독점 ProbeMag (tm) 신호 자기 감지 시스템을 통해 뛰어난 이미징 해상도와 반복 성을 제공합니다. KLA 8300에는 기존의 밝은 빔, 스캔 전송 (SM) 속성, 에너지 분산 X- 선 (EDX) 요소 화학 분석 및 산탄 총 2 차 이온 질량 분석법 (SIMS) 영상을 포함한 여러 작동 모드가 있습니다. 또한 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 와 여러 기술을 실행하기 위한 최적화된 워크플로우 (Workflow) 를 제공하여 빠르고 유연한 작업을 수행할 수 있습니다. 또한, 8300에는 1.4nm TENCOR 8300의 자동화 기능을 갖춘 상당한 피크 (peak) 및 밸리 측정 기능이 포함되어 있어 샘플링 균일성을 높이고 중요한 기능을 정량화할 수 있습니다. ADE/KLA/TENCOR 8300은 고급 자동화, 이미지 및 데이터 관리 기능을 완벽하게 갖추고 있습니다. 자동 사진 분석에는 스티칭, 초점 및 몽타주가 포함됩니다. ADE 8300에는 장치 성능 및 안정성 분석을위한 내장 분석 패키지 인 Pixart ™ 도 있습니다. 자동 조이스틱 탐색 (Automated joystick navigation) 및 장치 가장자리 감지 (detection of device edges) 기능을 통해 빠른 위치 지정 및 탐색 기능을 통해 빠른 속도와 정확도를 제공합니다. KLA 8300 의 전자원 (electron source) 은 광범위한 시야를 갖추고 있어 이미지 데이터 수집이 최적화되어 빠르고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 8300 은 빠른 가속도 전압 변화 (Rapid Acceleration Voltage Change) 및 빔 정렬 기능 (Beam Alignment Feature) 을 자랑하며, 단기간 내에 최대 수준의 사양을 달성할 수 있습니다. 6 ~ 300 pA의 가변 전류 범위는 다양한 이미징 및 분석 응용 프로그램에 적합합니다. TENCOR 8300에는 비상 도어 인터록 스위치, 이온 지우기 기능, X- 선 오염 경고, 환경 유지 관리 일정 등의 최첨단 안전 기능도 포함되어 있습니다. ADE/KLA/TENCOR 8300에는 먼지 입자 또는 에어로졸을 캡처하는 입자 필터가 장착되어 있어 작동 및 결과의 신뢰성이 가장 높습니다. ADE 8300 은 모든 애플리케이션에 뛰어난 성능, 안정성, 안전성을 제공하도록 설계된 포괄적인 SEM 이미징 및 분석 시스템입니다. 이미지, 데이터 관리, 자동화, 워크플로우, 저전압 등 다양한 운영 모드 및 기능을 갖춘 KLA 8300 은 정확한 고해상도 이미징 및 데이터 분석에 이상적인 시스템입니다.