판매용 중고 CAMBRIDGE S 200 #9034861
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판매
ID: 9034861
SEM
Windows 7 upgrade
Scanning system DISS 5 standard edition/communication USB 2.0
Hardware: X-/Y-scan, 2 analog signal inputs without counter inputs
Software: without mapping and enlarged point measurement/line scan
19" rack (containing the electronics), 10 HU without housing,
without desk
Backplane and power logic with interlock system
Central USB 2.0 interface for control and communication
Plug-in card with 8 bipolar current sources
(Beam alignment, image shift, stigmator)
Plug-in card with X-/Y-scanning power amplifier / current sources
(Magnification coarse/fine, scan rotation, tilt correction X/Y filament image)
Plug-in card for objective and 2 condensor lenses / power current sources (focus coarse, fine, spot size)
Plug-in card with 8 analog unipolar/bipolar control outputs /voltage (gun: HV, filament emission, SE: contrast, brightness, grid; aux: contrast brightness)
2.9. Power supplies for electronics, lenses and coils
SE-amplifier module
(Amplifier with offset; adjustable 1,5 kV for PMT, power supply SE-preamp
SE-high voltage module
(10-12 kV scintillator-high voltage and adjustable grid voltage
Control module for gun-high voltage of SEM
(Control of HV, filament, emission, emission current measurement, optional: power supply)
Adaption of the vacuum and HV interlock of the SEM to the
interlock-system of the SEM-upgrade (Vacuum-gun-HV-interlock; Stage SE-HV-interlock)
19" rack fitting in the SEM housing
Schottky Thermal Field Emission (TFE) source
Point-to-point Resolution of <3nm*
High Beam Current. (10pA to >100na)
Improved low voltage (1kV) performance
TFE “Schottky” Source PC controlled.
Reduced Downtime and Cost of Ownership
Fully reversible AND transferable upgrade Kit for variety of Tungsten (W) SEM models including JEOL, Hitachi,
FEI, Zeiss and others.
External and internal magnetic shielding
30 KeV Schottky Field Emission Source Mechanical Assembly:
x1 Thick walled stainless steel chamber
One Schottky Field Emission Gun Unit
Differential pumping tube and UHV valve
Internal mu-metal shield
55 I/s ion pump and power supply (optional)
External mu-metal shield
YPS High Voltage Power Supply:
Remote high voltage supply unit with:
Fibre optic link
High voltage cable with Discharge Management
YPS Schottky Field Emission Gun Unit:
Pre-aligned™ YPS Schottky field emission module (HV-30)
YPS Software Interface:
USB interfaced fibre optic output to the remote YPS HV power supply
Software from the system PC to controland monitor the Schottky field emission module.
CAMBRIDGE S 200은 작은 물체의 영상 및 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 해상도는 1 나노미터 (1 나노미터) 에 불과한 엄청나게 높은 해상도의 이미지를 제작할 수 있습니다. CAMBRIDGE S-200의 주요 구성 요소에는 전자 소스, 가속 열, Faraday 케이지, 디플렉터, 스캐닝 발전기, 고장력 전원 공급 장치 및 디지털 이미지 감지기가 포함됩니다. 전자원은 전자를 방출하는 훌륭한 필라멘트 (filament) 로, 가속 기둥을 따라 이동합니다. 그 후, 전자는 편향기를 통과하여 빔을 샘플 영역으로 편향시킨다. 스캐닝 생성기 (scanning generator) 는 샘플 영역에서 편향된 빔을 생성하므로 샘플 서피스의 래스터 이미지 (raster image) 를 생성할 수 있습니다. 일단 검사 가 끝나면, "이미지 '탐지기 로 신호 가 보내져 광학" 신호' 를 전기 신호 로 바꾸어 "디스플레이 '로 보내진다. S 200 은 다양한 기능을 통해 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 분석 (analysis) 을 필요로 하는 애플리케이션에 적합합니다. 초고진공시스템 (ultra-high vacuum system) 은 매우 낮은 압력으로 작동하여 샘플이 전자 빔에 의해 손상되지 않도록 합니다. 또한, 에너지 필터는 빔 확대를 줄이고, 더 높은 해상도의 이미지를 생성하는 데 도움이됩니다. 또한 노이즈 감소 및 명암비 개선 (Contrast Enhancement) 을 지원하는 통합 이미지 개선 시스템이 있습니다. S-200 에는 표본 탐색 및 위치 지정을 자동화 할 수있는 고급 표본 단계가 있습니다. 따라서 사용자 상호 작용 없이 표본을 이미지화할 수 있습니다. 스테이지에는 가변 가속 전압, 샘플 기울기 (sample tilt) 및 샘플 회전 (sample rotation) 과 같은 다양한 기능이 있으므로 거의 모든 이미징 또는 분석 작업에 적합합니다. CAMBRIDGE S 200은 직관적 인 사용자 인터페이스를 통해 현미경을 쉽게 탐색, 작동 및 제어 할 수 있습니다. 또한 표본 이미지에 대한 실시간 추적, 자동화, 정량적 분석을 제공하는 고급 소프트웨어 시스템이 있습니다. 이를 통해 CAMBRIDGE S-200은 nanoscale metallography, 재료 분석, 실패 분석 및 곡물 크기 측정과 같은 다양한 응용 분야에 적합합니다. 전반적으로, S 200은 매우 고해상도 이미지를 생성 할 수있는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고급 기능을 통해 자동화된 표본 포지셔닝, 직관적인 작업, 정량적 분석 (quantitative analysis) 을 통해 다양한 애플리케이션에 이상적인 선택이 가능합니다.
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