판매용 중고 AMRAY 3200C #9194584

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AMRAY 3200C
판매
ID: 9194584
Scanning electron microscope (SEM).
AMRAY 3200C는 다양한 물질의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. SEM은 전자 열과 검출기를 사용하여 해상도가 4 나노 미터, 깊이가 1 나노 미터 인 샘플 이미지를 얻습니다. 3200C는 최대 30 kV의 가속 전압과 18 나노미터 (18 나노미터) 의 스팟 크기를 갖추고 있어 고해상도 이미징 및 측정에 최적입니다. SEM 의 시야는 조정이 가능하며, 직경 2.5 나노미터 (Nanometer) 까지 조정할 수 있으며, 단일 스팟의 정확한 이미징 또는 분석을 가능하게 합니다. 기기의 작동 조건 (operating conditions) 을 원격으로 조정, 제어하여 특정 응용프로그램에 원하는 조건을 제공할 수도 있습니다. 여기에는 가속 전압, 압력 및 온도와 같은 기능이 포함됩니다. AMRAY 3200C에는 이미징 및 분석에 이상적인 여러 기능이 장착되어 있습니다. 샘플의 정확한 위치 지정, 높은 전류 이미징 및 분석을위한 전자 소스 (electron source for high current imaging and analysis) 및 최소 수차로 확대된 이미지를 제공하는 동축 렌즈 (coaxial lens) 를 허용하는 자동 단계가 있습니다. 다중 채널 검출기를 사용할 수 있으므로 다양한 신호 처리 기능을 사용할 수 있습니다. 또한 SEM에는 비 전도성 샘플 분석을위한 통합 저 진공 시스템이 포함되어 있습니다. 또한 SEM에는 특정 응용 프로그램의 기기 설정 (instrument setup) 을 사용자 정의하는 데 사용할 수있는 다양한 액세서리가 있습니다. 여기에는 cryo-transfer stage, 고온 샘플 스테이지, 이미지를 찍거나 측정을 수행하는 동안 샘플을 조작하기위한 다양한 프로브 (probe) 가 포함됩니다. 이미지 처리 및 분석 기능 외에도 3200C는 스퍼터 코팅 (sputter coating), 부식 테스트 (corrosion testing), 결함 분석 (defect analysis) 과 같은 다른 응용 프로그램에도 적합합니다. SEM은 즉각적인 피드백 (feedback) 을 통해 샘플을 신속하게 처리하여 빠른 진단 테스트에 최적입니다. 전반적으로, AMRAY 3200C (Advanced Scanning Electron Microscope) 는 이미징 및 분석, 기타 응용 프로그램 등 다양한 용도에 적합한 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 및 분석 (Analysis) 기능, 조정 가능한 조건 및 특정 응용 프로그램의 기기 설정을 사용자 정의하기 위한 다양한 액세서리를 제공합니다.
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