판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001CX #116241

ELECTROGLAS / EG 2001CX
제조사
ELECTROGLAS / EG
모델
2001CX
ID: 116241
웨이퍼 크기: 6"
Full auto probe stations, 6" DB version Vision module: Cognex Hardware configuration: 6" auto wafer prober Ring carrier Probe card holder 6" gold chucktop Z-stage 0.25 mil XY stage with base unit controller W / F profile unit Auto align unit, with CCD optic Monitor B / W, 9" 6" wafer auto loader kit Interface: TTL / RS22C / GPIB Microscope: Olympus High table Disk drive.
ELECTROGLAS 2001CX는 반도체 테스트 및 측정 시스템의 주요 제공 업체 인 ELECTROGLAS가 개발 한 전문가입니다. 이 구성 가능한 프로버는 다양한 기판에서 고정밀 웨이퍼 (high-precision wafer) 및 장치 프로브 (device probing) 작업을 수행하도록 설계되었습니다. 2001CX는 듀얼 스플릿 빔 (split-beam) 옵티컬 및 다중 전기 채널 기능과 고급 데이터 획득 및 제어 기능을 갖추고 있습니다. ELECTROGLAS 2001CX 는 고성능 처리량을 제공하도록 설계되었으며 시간당 최대 160 개의 Wafer 를 처리할 수 있습니다. 장비는 다양한 자동 정렬기 (auto-aligner) 옵션과 다양한 교환 가능한 프로브 및 전극으로 구성할 수 있습니다. 또한 이 시스템은 모듈식 (modular) 설계를 통해 특정 응용 프로그램에 대한 프로버를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 2001CX 는 전반적인 성능과 안정성을 향상시키도록 설계된 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 이 장치는 구조용 강철 프레임으로 구성되며 유압 제어 웨이퍼 처리 셔틀 (wafer-handling shuttle) 을 통합하여 직경 350mm (wafer) 까지 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. 프로버에는 조정 가능한 팁 반지름 미터 (tip radius meter) 와 각도 측정 장치가 장착되어 있어 정확하고 반복 가능한 정렬이 가능합니다. ELECTROGLAS 2001CX에는 여러 데이터 수집 및 제어 기능도 포함되어 있습니다. PC 기반 분석기가 장착되어 있어 데이터를 실시간으로 캡처, 처리, 분석할 수 있습니다. 2001CX는 또한 모듈식 소프트웨어 아키텍처를 갖춘 PLC (programmable logic controller) 를 포함하며, 이를 통해 사용자는 특정 응용 프로그램에 대한 검증을 구성할 수 있습니다. 마지막으로 ELECTROGLAS 2001CX는 터치 감지 보드 표면, ESD 보호 및 자동 광 셔터를 포함한 광범위한 안전 기능을 제공합니다. 이 기계는 또한 인체 공학을 염두에두고 설계되었으며, 유연한 작업 높이와 사용자 친화적 인 컨트롤을 제공합니다. 전반적으로, 2001CX는 광범위한 고정밀 (high-precision) 프로빙 작업에서 최적의 성능과 정확성을 제공하도록 설계된 고급 전문가입니다. ELECTROGLAS 2001CX는 다양한 기능, 고급 데이터 획득/제어 기능, 광범위한 안전 기능을 갖춘 반도체 테스트 환경을 위한 최적의 솔루션입니다 (영문).
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