판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9200168

ACCRETECH/TSK UF 3000은 반도체 구성 요소의 고정밀 테스트, 측정 및 분석을 위해 설계된 전문가입니다. 다양한 유형의 IC 테스트에 적합하며, 정확하고 재현 가능한 결과를 제공할 수 있습니다. TSK UF 3000에는 전자 현미경, 결함 검사, 결정 성 측정, 전기 특성 측정 및 표면 분석을 포함한 다양한 분석 기능이 있습니다. 이 제품은 높은 수준의 정확도와 고속 성능을 갖추고 있어 반도체 생산에서 품질 관리 (Quality Control) 를 위한 완벽한 도구입니다. ACCRETECH UF3000 은 고속 스위핑 (sweeping) 기능을 갖추고 있어 데이터를 신속하게 수집하고 고해상도로 분석할 수 있습니다. 이 데이터는 결함 감지, 회로 분석 및 기타 용도로 사용될 수 있습니다. 이 프로버는 또한 높은 수준의 정확성과 반복성 (repeatability) 을 가지고 있으며, 반도체 장치를 안정적이고 정확하게 분석 할 수 있습니다. UF3000 은 다용도 (versatile) 아키텍처로 설계되어 다양한 애플리케이션과 시스템에 적합합니다. 간단한 설치를 위해 설계되었으며 고속 작동을 제공합니다. 이 Prober는 또한 확장 가능하며, 특정 고객 요구 사항을 충족하도록 사용자 정의할 수 있습니다. UF 3000 은 광범위한 웨이퍼 (wafer) 크기를 처리할 수 있으며 다양한 유형의 테스트 시스템과도 호환됩니다. 종합적인 테스트/분석을 지원하기 위해 다양한 측정/분석 기기와 통합할 수 있습니다. TSK UF3000 은 사용이 쉽고 운영자 친화적이며 원격으로 또는 수동으로 작동할 수 있습니다. 직관적인 그래픽 인터페이스와 프로버 (Prober) 를 제어 및 구성할 수 있는 사용자에게 친숙한 소프트웨어가 있습니다. 또한 장기적인 안정성을 위해 설계되었으며, 극심한 기상 상태와 거친 환경을 견딜 수 있습니다. ACCRETECH UF 3000은 다양한 유형의 IC에 대한 정확하고 반복 가능한 테스트, 측정 및 분석을 제공하기 위해 설계된 고급 전문가입니다. 다양한 반도체 생산 프로세스에 적합한 안정적이고 다양한 도구입니다. 프로버 (Prober) 는 고속 스위핑 기능을 갖추고 있으며 다양한 웨이퍼 크기와 테스트 시스템을 처리 할 수 있습니다. ACCRETECH/TSK UF3000은 사용자 친화적이며 높은 수준의 정확성과 반복 가능성을 제공합니다.