판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9196328

ACCRETECH/TSK UF 3000은 TSK/TOK에서 개발한 전문가로서 웨이퍼 및 장치 테스트를 처리 할 수 있습니다. 이 제품은 고속 프로빙 장비와 고해상도 광학 기술을 결합하여 정밀 측정을 생성합니다. 또한 TSK UF 3000 은 다양한 툴 팁을 활용하여 다양한 테스트 요구 사항을 지원합니다. 이 시스템은 높은 수준의 정확도를 유지하면서 빠른 자동 (fast automated) 프로브를 가능하게 합니다. ACCRETECH UF3000 Prober의 기능에는 200kz 샘플링 속도의 고속 프로브 카드, 고정밀 XY 포지셔닝 기능 및 0.5zm 이미징 해상도를 제공하는 고해상도 광학 현미경이 포함됩니다. Prober에는 다양한 Probe 카드가 포함되어 있으며, 이를 통해 3D 장치 테스트에 대한 깊은 Probe가 가능합니다. 또한이 장치에는 온도 및 습도 제어 기능이 가능한 환경 제어 장치 (Environmental Control Unit) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 지속적인 테스트를 위한 정확성과 반복성이 보장됩니다. ACCRETECH UF 3000 Prober는 강력한 분석 도구를 제공하여 반도체 장치의 빠르고 효율적인 특성을 제공합니다. 이 도구에는 IV, C-V, ESD 보호, 타이밍 측정 등과 같은 장치 특성 분석을 위한 통합 환경을 제공하는 Analysis Center 소프트웨어 제품군이 포함되어 있습니다. 분석 센터에는 신속하게 데이터를 평가하고 문제를 정확하게 파악할 수 있는 "찾기/수정" 기능이 있습니다. 또한, 프로버 (Prober) 는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 모든 데이터에 대한 즉각적인 액세스를 제공하며 신속하게 조작할 수 있습니다. 또한 UF3000 Prober는 지터, 크로스 토크 및 신호 성능의 다른 측면과 같은 신호 무결성을 효율적으로 측정 할 수있는 스펙트럼 분석 (Spectral Analysis) 기능을 제공합니다. 이 시스템은 다중 계층 보호 시스템 (multi-tier protection machine) 을 사용하여 데이터 무결성을 보호하고 테스트 결과를 안전하게 보존합니다. 전반적으로 UF 3000 Prober는 자동화된 테스트를 위한 고급적이고 효율적인 솔루션입니다. 이 도구는 반도체 장치의 빠르고 정확한 테스트 및 특성화를위한 강력한 도구를 제공합니다. 이 자산은 대용량 생산 요구 사항을 수용하고 정확성을 유지하도록 설계되었습니다. 광범위한 기능, 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 모든 데이터에 쉽게 액세스할 수 있으며, 포괄적인 테스트를 위한 이상적인 솔루션이 됩니다.