판매용 중고 ACCRETECH / TSK JF 200 #9159424

ACCRETECH/TSK JF 200은 웨이퍼, 기판 및 기타 표면을 검사하고 분석하는 데 사용되는 매우 다양한 정밀 전문가입니다. 고도의 정밀도 및 반복성을 갖춘 다기능 전문가로서 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer) 및 기타 재료를 조사, 검사 및 테스트하는 데 이상적입니다. TSK JF 200 Prober에는 저온과 일관된 성능을 보장하기 위해 가열된 척 (chuck) 과 냉각 팬이 포함 된 스테퍼 모터 구동 X-Y 스테이지가 장착되어 있습니다. 또한 고급 자동 초점 장비 (Synrad 레이저를 사용하여 웨이퍼 표면에 정확하게 초점을 맞추는) 가 포함되어 있습니다. 이 시스템은 또한 웨이퍼 (wafer) 와 기판의 치수와 두께를 측정할 수 있으며, 형태 표면에 결함이 있음을 감지할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 또한 신뢰할 수 있고 정확한 비전 유닛을 갖추고 있으며, 테스트 대상 재료의 이미지를 캡처하여 사용자에게 추가 분석을위한 자세한 시각적 피드백 (Visual Feedback) 을 제공합니다. 이 비전 머신에는 컬러 CCD 카메라, LED 조명 및 컴퓨터 모니터가 포함됩니다. "컴퓨터 모니터 '를 사용 하여" 비전' 도구 에서 "이미지 '를 표시 하여 그 결과 를 분석 하는 편리한 방법 을 제공 할 수 있다. ACCRETECH JF 200에는 또한 고출력 부하 증폭기, 압전 드라이브 자산 및 고정밀도 힘 센서 (Prober가 작은 힘을 정확하게 측정 할 수 있음) 가 포함되어 있습니다. 이 정확 한 측정 은 시험 되고 있는 표면 의 성질 (예: 경도, 탄성, 내마모 등) 과 물질 을 결정 하는 데 사용 될 수 있다. 측정의 정확성과 반복성을 보장하기 위해 프로버 (Prober) 에는 피드백 제어 모델 (feedback control model) 도 포함되어 있습니다. 이 모델은 웨이퍼에 가해지는 압력을 지속적으로 모니터링하고 그에 따라 수정합니다. 이를 통해 테스트 결과는 정확하고 반복 가능하며, 예상 값과 거의 차이가 없습니다. 또한, JF 200 프로버 (JF 200 Prober) 에는 온도 보상 장비 (Temperation compensation Equipment) 가 포함되어 있으며, 테스트 중인 재료나 환경 조건에 관계없이 테스트 온도를 일관되게 유지하는 데 도움이됩니다. 따라서 테스트 결과가 정확하고 일관성이 보장됩니다. 마지막으로, ACCRETECH/TSK JF 200 Prober는 직관적인 사용자 인터페이스와 간단한 유지 관리 루틴 덕분에 쉽게 작동하고 유지 관리할 수 있습니다. 따라서 연구자, 제조업체, 그리고 그 밖 의 전문가 들 에게 신뢰 할 만한, 정확 한 결과 를 필요 로 하는 훌륭 한 선택 을 하게 됩니다.