판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR 9500 UltraGage #9171282

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ID: 9171282
Wafer inspection system.
ADE/KLA/TENCOR 9500 UltraGage는 다양한 웨이퍼 크기에 대해 매우 정확한 테스트 및 측정 결과를 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고해상도 스캔 장치 (scanning unit), 고속 이미징 기능, 다양한 애플리케이션별 툴 및 구성을 갖추고 있습니다. ADE 9500 UltraGage에는 고정밀 웨이퍼 측정이 가능한 최첨단 CCD 이미징 머신이 장착되어 있습니다. 이 도구에는 전체 300mm 웨이퍼 (wafer) 를 트래버스하여 높은 정밀도로 큰 장치를 테스트 할 수있는 스테이지가 있습니다. 또한 CCD 이미징 자산의 해상도와 속도를 높여 대량의 데이터를 이미징 (image) 할 수 있습니다. KLA 9500 UltraGage에는 고속 이미지 분석 모델이 있어 표면 도량형 테스트에 탁월한 성능을 제공할 수 있습니다. 이 장비에는 고감도 이미징 시스템 (고해상도) 이 있어 정확한 측정이 가능합니다. 또한 소음 수준이 낮고 로드 프로세스 (loading process) 가 최적화되어 매우 효율적이고 정확합니다. 이 장치에는 표면 도량형 테스트를위한 다양한 응용 프로그램 별 도구가 있습니다. 또한 컨투어 (contour) 및 프로파일 매핑 (profile mapping) 을 포함하여 비접촉 웨이퍼 분석을위한 소프트웨어 도구도 있습니다. 이러한 도구를 사용하면 정확한 서피스 결함 감지, 결함 크기 조정 및 기타 다양한 웨이퍼 측정이 가능합니다. 동시에, TENCOR 9500 UltraGage는 고속 데이터 수집 및 분석을 제공하도록 설계되었습니다. 고속 이미징 (High-Speed Imaging) 기능을 통해 매우 많은 양의 데이터를 빠르고 정확하게 수집하고 분석할 수 있습니다. 또한 초당 최대 1100 만 픽셀의 샘플링 속도가 높아서 효율성이 높습니다. 9500 UltraGage는 강력하고 다용도 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계입니다. 고정밀도, 고속 이미징 기능, 다양한 애플리케이션별 툴을 통해 다양한 wafer 테스트를 위한 이상적인 솔루션이 됩니다. 이 툴은 최적화된 로드 프로세스, 고속 데이터 수집/분석 (데이터 수집/분석) 기능을 제공하여 정확하고 효율적인 테스트/측정 결과를 제공합니다.
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