판매용 중고 PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165

PHILIPS/FEI Nova 600 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 고해상도 검사 및 샘플 분석을 위해 설계된 고해상도 이미징 및 분석 도구입니다. 표면 특징을 나노 미터 스케일까지 식별하고 반 도체 (semi-conductor) 및 기타 나노 스케일 구조의 고해상도 이미지를 제공 할 수 있습니다. 장비는 회전 목마 2 차 전자 (SE) 검출기, 전자 빔 조작을위한 정전기 총이있는 전자 기둥, 샘플 스테이지로 구성됩니다. FEI Nova 600에는 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광법 검출기가 장착되어 있어 샘플의 질적, 정량적 원소 분석이 가능합니다. 필립스 노바 600 (PHILIPS NOVA600) 의 전자 총은 다양한 전자 빔 전압 및 전류 밀도를 생성 할 수 있습니다. 이렇게 하면 서피스 피쳐에서 1nm 정도의 작은 고해상도 이미지를 생성할 수 있습니다. 빔 조작 장치 (beam manipulation unit) 는 래스터 패턴에서 x- 및 y- 평면으로 전자 빔을 편향시켜 샘플에서 표면 피쳐의 국소화를 가능하게함으로써 작동합니다. NOVA600의 샘플 단계는 x, y 및 z 세 축에서 모두 이동할 수 있습니다. 이를 통해 SEM은 전체 샘플을 스캔하여 샘플 표면의 정확한 3D 매핑을 얻을 수 있습니다. 이것은 샘플 (sample) 의 지형에서 매우 높은 수준의 세부 (detail) 를 제공하며, 샘플 서피스에서 특정 모서리와 모양이 어디에 있는지 정확히 식별하는 데 도움이됩니다. 이 기계에는 이미지 해상도 (image resolution) 와 미세 피쳐의 대조 (contrast) 를 최적화하는 자동화된 기능도 있습니다. 여기에는 전체 이미지 품질을 최적화하는 노이즈 감소 (Noise Reduction) 와 샘플 서피스의 여러 영역에서 샘플의 초점 깊이를 제어하는 동적 포커스 (Dynamic Focus) 가 포함됩니다. 마지막으로 PHILIPS Nova 600에는 2 차 전자 검출기와 EDXSpectroscopy 검출기가 모두 장착되어 있습니다. 2 차 전자 탐지기 (secondary electron detector) 는 샘플에서 방출 된 전자를 활용하여 샘플의 명암과 해상도를 최적화하도록 설계되었습니다. EDXSpectroscopy (EDXSpectroscopy) 는 샘플의 정량적 원소 분석과 샘플 표면에 존재하는 요소의 정성적 식별을 가능하게한다. 결론적으로 PHILIPS/FEI NOVA600 Scanning Electron Microscope는 매우 강력한 이미징 및 분석 도구입니다. 초고해상도 이미징 (ultra-high resolution imaging) 과 원소 분석 (elemental analysis) 기능을 나노미터 척도로 제공함으로써 샘플을 매우 자세히 검사할 수 있습니다. 자동 피쳐 (automated features) 및 빔 조작 에셋 (beam manipulation asset) 은 샘플 지형의 정확한 3D 맵을 제공하여 서피스 피쳐와 모양을 정확하게 측정할 수 있습니다.