판매용 중고 PLASMOS 2300 #131672

PLASMOS 2300 (PLASMOS 2300) 은 연구 개발에 사용되는 전문적인 최첨단 Ellipsometer 장비이자 생산 품질 관리입니다. 이 기구 는 "필름 '두께, 농도 및 광학" 상수' 에 대한 정보 를 얻기 위하여 표면 에서 흩어진 빛 의 편광 상태 의 변화 를 측정 한다. 2300에서 방출되는 빛은 2 개의 고품질 포켈 (Pockels) 셀과 제로-순서 (Zero-Order) 웨이브 플레이트에 의해 생성 된 연속 가변 편광 상태를 통해 조정됩니다. PLASMOS 2300 의 강력한 성능과 빠른 응답 시간 (response time) 을 통해 운영 및 연구 애플리케이션을 위한 최적의 선택이 가능합니다. 2300은 광시야각 초점 장치 (focusing unit), 통합 컴퓨터 (Integrated Computer) 및 전용 소프트웨어를 갖춘 완전한 스캐닝 Ellipsometer 시스템입니다. 이 장치에는 256x256 픽셀 해상도와 0.3mm 라인 간격의 CCD 카메라가 포함되어 있습니다. 이 "카메라 '는 흩어진 평면 을 가로질러 산란 된 빛 의 강도 의 변화 를 정확 하게 측정 하는 데 사용 된다. 컴퓨터와 함께 제공되는 소프트웨어를 사용하면 스캐닝 (scanning) 광 도구를 쉽게 제어하고 모니터링할 수 있습니다. PLASMOS 2300 (PLASMOS 2300) 은 작은 건설적이고 파괴적인 간섭 패턴에 매우 민감하여 얇은 필름의 광학 상수 (optical constant) 와 두께 (thickness) 를 결정하는 데 높은 정확성과 반복성을 제공합니다. 넓은 스펙트럼 범위로, 자산은 단일 측정에서 자외선 (190nm) 에서 가시성 (755nm) 및 근적외선 영역 (1070nm) 까지의 측정을 허용합니다. 2300의 각도 해상도는 탁월한 0.2 ° 입니다. 이 기능을 통해 연구원은 고해상도 (high resolution) 데이터를 수집하고 원하는 정보를 빠르고 쉽게 얻을 수 있습니다. 더욱이, 이 기구 는 더 정확 한 결과 를 얻기 위해, 여러 가지 측정 을 원하는 입사율 의 각도 로 할 수 있다. PLASMOS 2300은 Reflectometry 및 Transmittance에서 측정합니다. 반사계 (Reflectometry) 에서, 기기는 샘플 표면에 여러 개의 빔의 반사로 인해 산란 된 빛의 편광 평면 변화를 측정합니다. 반면에, 투과율 (Transmittance) 에서, 샘플은 조명되고, 빛이 필름을 통과하면, 산란 된 빛의 샘플 및 편광면 변화의 특성에 기초하여 측정이 이루어진다. 2300은 같은 측정에서 Reflectometry와 Transmittance를 동시에 측정할 수있는 고유 한 기능을 가지고 있습니다. 이를 통해 사용자는 동일한 샘플에서 필름 두께와 컴포지션을 모니터링할 수 있으므로, 보다 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 전체적으로 PLASMOS 2300은 강력하고 고성능 Ellipsometer 모델입니다. 박영화 (Thin Film) 의 광학 특성을 측정하는 데 사용되는 접근 가능한 도구를 재료 과학 분야의 연구원들과 전문가들에게 제공합니다. 광범위한 스펙트럼 범위 (spectral range) 와 민감한 편광 측정을 통해 2300은 고급 연구에 이상적인 선택입니다.