판매용 중고 PHILIPS SD-3400 #9163651

PHILIPS SD-3400은 광학 박막 모델링과 같은 표면 특성 실험에 사용되는 고급 타원계 기술 장치입니다. SD 프레임 워크는 단색 편광기 (monochromatic polarizer) 와 검출기 (detector) 를 사용하여 빛의 전기장 벡터의 두 매개변수 (진폭 및 위상) 를 측정합니다. 두 매개변수 모두 입사각 (angle of incidence) 에 따라 측정되며, 이를 통해 재료 광학 특성을 매핑할 수 있습니다. PHILIPS SD 3400에는 632.8 nm의 파장과 CCD 검출기를 제공하는 저강도 HeNe 레이저 소스가 장착되어 있습니다. SD-3400은 굴절률 (refractive index), 광학 코팅 두께 (optical coating thickness) 또는 내부 필름 레이어 (internal film layer) 를 특징으로하는 박막 (thin film) 을 포함하여 다양한 샘플 유형을 사용할 수 있습니다. 또한, SD 3400은 다중 계층 재료, 재료 광학 특성화를위한 선호 대상 측정을 측정 할 수도 있습니다. 필립스 SD-3400 (PHILIPS SD-3400) 의 최첨단 설계는 조리개 설정, 낮은 기계적 스트레스 활용 및 전자 초점이 포함 된 초정밀 5 축 goniometer의 조합으로 구현됩니다. 또한, 최첨단 미러 장착 기술은 고니 오미터 광학 (goniometer optics) 의 조정에 비해 증가 된 틸트 범위와 연장 된 수명을 제공합니다. 또한 PHILIPS SD 3400 은 고급 데이터 처리 및 프레젠테이션 기능, 고급 광 모델링 (advanced optical modeling), 맞춤형 실험 설계 기능 등 샘플 자료의 표면 매개변수를 얻을 수 있는 광범위한 프로세스/분석 소프트웨어를 제공합니다. SD-3400은 스캐닝 선형 정확도 0.001 ° (0.001 °) 로 입증 된 물질적 특성화를위한 매우 정확한 도구입니다. 이 고품질 장치는 어플리케이션에 높은 안정성, 데이터 처리를 위한 PC 호환 사용자 인터페이스, 더 많은 결과를 제공하는 강력한 광 모니터링 시스템 (Optical Monitoring System) 을 제공합니다. 또한, 설계는 진동 격리, 이중 채널 측정, 소음 감소 등 다양한 옵션 구성을 제공합니다. SD 3400은 재료 분석, 광학 특성 측정, 박막 특성화에 이상적인 도구입니다. 최첨단 디자인과 최첨단 (State-of-the-art) 기능을 통해 탁월한 성능을 얻을 수 있어 다양한 어플리케이션에서 탁월한 효율성을 자랑합니다.