판매용 중고 J.A. WOOLLAM M-2000 #9189354

J.A. WOOLLAM M-2000은 박막의 두께와 광학 특성을 모두 측정하는 고급 광학 타원계입니다. M-2000 은 특허를 받은 회전보정기 (rotating compensator) 기술을 활용하여 박막의 굴절률 (refractive index) 과 소멸계수 (extinction coefficient) 를 모두 측정합니다. 이 기기는 단색 광원을 특징으로하며, 두 쌍의 교차 선형 편광기를 통해 전달됩니다. 빛이 샘플을 통과함에 따라 편광 상태 (polarization state) 가 변경되고 결과 강도의 차이가 샘플의 광학적 특성 (optical properties) 과 관련이 있습니다. J.A. WOOLLAM M-2000은 박막 증착, 광학 코팅, 반도체 장치 제작, 표면 과학 등 다양한 응용 분야를 위해 설계되었습니다. M-2000은 LASE (Low Angle spectroscopic Ellipsometer) 를 사용하여 0.1도 이상의 정확도로 0-15nm의 박막을 측정 할 수 있습니다. 이것은 고유 한 멀티 채널 검출기 (multi-channel detector) 시스템과 결합하여 박막 측정에 대한 최고의 정확도와 정확도를 제공합니다. J.A. WOOLLAM M-2000에는 자동 온도 조절을위한 새로운 내부 샘플 환경도 있습니다. 이것은 반도체와 같은 온도 의존성이 강한 광학적 특성을 가진 물질을 측정 할 때 장점입니다. 기기의 자동 회전 보상 시스템 (automated rotation compensation system) 은 방향에 관계없이 얇은 필름을 부드럽고 정확하게 측정 할 수 있습니다. M-2000 의 기본 제공 소프트웨어 인터페이스를 사용하면 데이터를 쉽게 제어하고 시각화할 수 있습니다. 소프트웨어는 실시간 피드백을 제공하며, 이를 통해 신속하게 문제를 진단하고 설정을 조정할 수 있습니다. 또한 고급 데이터 획득 루틴과 실험 프로토콜 관리를 지원합니다. J.A. WOOLLAM M-2000은 강력하고 다재다능한 장비로, 정확성과 정확도가 뛰어난 박막 특성을 측정할 수 있습니다. 첨단 광학 기술 (Optical Technology) 과 자동화된 데이터 획득 소프트웨어 (Automated Data Acquisition Software) 를 결합하면 다양한 업계의 연구 개발을 위한 귀중한 툴이 됩니다.