판매용 중고 GAERTNER L2W16D.830 #9029443

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GAERTNER L2W16D.830
판매
ID: 9029443
빈티지: 1996
Ellipsometer Missing computer and stage driver (2) wavelength ellipsometers use additional laser sources to analyze difficult films 8" dia. stage with motorized stage No controller 1996 vintage.
GAERTNER L2W16D.830은 박막 재료를 특성화하기 위해 안정적이고 사용하기 쉬운 광학 장비를 제공하는 정밀 스캔 타원계입니다. 이 시스템은 파장 (wavelength) 과 각도 해소 (angle-resolved) 측정의 조합을 사용하여 최종 정확도로 박막의 진정한 광학 상수를 결정합니다. 원형 및 선형 편광의 데이터 수집을 지원하여 금속, 실리콘, 폴리머, 반도체 및 바이오 재료와 같은 광학 필름의 포괄적 인 특성을 허용합니다. GAERTNER L2W16D.830은 정밀 스캔 거울에 광학적으로 결합 된 632.8 및 543.5nm의 파장을 제공하는 이중 파장 HeNe 레이저 소스를 사용합니다. 또한 환형 스팟 생성기를 통합하여 최대 5mm 용량의 라인 포커스 (line focus) 를 생성합니다. 이를 통해 단일 스캔 내에서 더 큰 표면 영역을 평가할 수 있습니다. 액티브 제어 장치 (Active Control Unit) 는 포커싱 광학의 일관되고 정확한 스캐닝 이동을 보장합니다. GAERTNER L2W16D.830의 광학 머신은 사용 편의성을 위해 설계되었으며, 스팟 크기, 진동 모드, 입사각 (angle of incidence) 등의 측정 매개변수를 자동으로 설정할 수 있습니다. 통합 다이오드 배열 분광계 (integrated diode array spectrometer) 는 0.5nm까지 파장 해상도를 제공하며, 각 파장에서 여러 측정치를 빠르고 정확하게 취할 수 있습니다. 이 도구는 컴퓨터로 제어되는 XY-tripod (XY-tripod) 를 통합하는 스테이지에 장착되어 있어 샘플의 빠르고 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. GAERTNER L2W16D.830 (GAERTNER L2W16D.830) 은 개방적이고 직관적인 사용자 인터페이스로 설계되어, 매개변수 조정을 단순화하고 현장에서 데이터를 쉽게 분석할 수 있습니다. 데이터 사후 처리 및 전문적인 보고서 생성을 지원하는 다양한 소프트웨어 모듈 (옵션) 을 사용할 수 있습니다. 결국, GAERTNER L2W16D.830은 탁월한 정확도와 해상도로 얇고 초박형 필름의 광학 특성화를위한 포괄적인 기능을 제공합니다. 자동화된 설치, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface), 전문적인 소프트웨어 모듈 (professional software module) 을 통해 다양한 자료를 분석하는 데 이상적인 자산입니다.
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