판매용 중고 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #9407880
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KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600은 엔지니어가 정확성과 반복성을 위해 실리콘 웨이퍼의 기능을 빠르고 정확하게 측정 및 분석 할 수있는 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. KLA Optiprobe 2600은 강력한 하드웨어, 뛰어난 광학, 고급 알고리즘을 통해 사용자에게 웨이퍼 테스트에서 탁월한 수준의 정확성과 반복 성을 제공합니다. TENCOR Optiprobe 2600은 고급 광학 현미경을 사용하여 운영자가 실리콘 웨이퍼의 기능 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 도구는 웨이퍼 (wafer) 서피스에서 피쳐의 정확한 위치와 크기를 측정하는 데 사용됩니다. 또한 Optiprobe 2600은 특허를 획득한 멀티트랙 프로파일링 (multi-track profiling) 기술을 활용하여 운영자가 최고의 정밀도로 임의의 크기 및 깊은 기능을 신속하게 파악하고 분석할 수 있습니다. 또한 웨이퍼 높이, 각도 및 표면 조건을 정확하게 측정 할 수 있습니다. THERMA-WAVE Optiprobe 2600은 여러 고급 컨트롤러와 함께 제공되므로 사용자가 웨이퍼 테스트 프로세스를 자동화할 수 있습니다. 이러한 컨트롤러는 사용자가 단일 웨이퍼 (wafer) 에 여러 데이터 포인트를 수집하여 이 정보를 데이터베이스에 저장할 수 있도록 합니다. 이를 통해 다양한 웨이퍼 결과를 비교하고 테스트 프로세스를 최적화 할 수 있습니다. KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600은 또한 실험의 정확한 모니터링을 통해 성능 매개 변수가 유지되도록 합니다. 데이터 분석을 위해, KLA Optiprobe 2600 은 여러 Wafer 의 데이터 상관 관계를 자동화하고 다양한 특성에 매핑하는 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 갖추고 있습니다. 따라서 여러 레이아웃에서 웨이퍼를 쉽게 비교할 수 있습니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 또한 연산자가 웨이퍼에 결함 및 불규칙성 (Imrularity) 의 존재를 특징 짓는 정확한 패턴을 분석 할 수있는 고급 알고리즘을 갖추고 있습니다. TENCOR Optiprobe 2600은 제조 공정에서 웨이퍼 테스트 및 도량형의 미션 크리티컬 성능 및 처리량을 극대화하기 위해 특별히 설계되었습니다. 이는 반도체 제조업체의 정확한 요구 사항을 충족하는 데 매우 안정적이고 비용 효율적입니다.
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