판매용 중고 JMAR Mirage S2610-01-01-N #112118
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ID: 112118
Automatic Measurement System
Set up for Vertical back light SCH0TT DCR3
Includes:
SCH0TT DCR3 ring light
Microsoft keyboard
Samsung Syncmaster 710N
J-mar joystick
Modem advanced computer solutions.
JMAR Mirage S2610-01-01-N은 전압, 정전기, 저항과 같은 반도체 장치 매개변수의 안정적인 측정을 제공하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고성능 정밀 공기 베어링 로터 (air bearing rotor) 로 구동되어 웨이퍼 두께와 프로파일을 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 장치에는 또한 웨이퍼 (wafer) 변형 분석 모듈 (wafer deformation analysis module) 이 있어 웨이퍼 표면에서 테이프 높이와 양식 프로세스를 볼 수 있습니다. S2610-01-01-N 은 고급 제어 시스템 (Advanced Control Machine) 과 소프트웨어 인터페이스를 갖추고 있어 스캔 속도, 센서 응답 시간, 해상도, 기타 설정을 제어할 수 있습니다. 이 도구는 향상된 웨이퍼 검사, 이미지 반사성 및 소음 거부를 위해 LED 조명 (LED illumination) 과 같은 고급 이미징 기술과 통합됩니다. 이미징 (Imaging) 기술은 광범위한 웨이퍼에 대한 향상된 데이터 수집 및 분석 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 또한 S2610-01-01-N () 은 습도 및 온도 보상 자산을 내장하여 습하고 건조한 웨이퍼를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 데이터 스토리지 (data storage) 및 분석 (analysis) 기능과 결합된 이 모델의 포괄적인 소프트웨어 기능은 운영 라인 테스트에 이상적입니다. 장비에 의해 수집, 분석되는 데이터는 여러 파일 형식으로 저장, 분할, 익스포트될 수 있습니다. 이 시스템은 또한 실시간, 오류 없는 데이터 출력, 성능 분석 기능을 제공하여 Wafer 품질을 신속하게 평가합니다. 또한, 이 장치에는 신호 평균, 필터링, 평판 매핑, 신호 모양 수정, 신호 모양 최적화 등의 신호 처리 기능이 포함됩니다. 따라서 사용자는 모든 반도체 장치의 전압, 정전량, 내성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. Mirage S2610-01-01-N은 비용 효율적이고 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 웨이퍼 두께와 반도체 장치 매개변수에 대한 안정적인 측정을 제공합니다. 이 툴의 첨단 이미지 처리 기술 (Advanced Imaging Technology) 과 신호 처리 (Signal Processing) 기능은 운영 라인 테스트에 이상적인 솔루션입니다.
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