판매용 중고 DATACOLOR Elrepho 2000 #293585608
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DATACOLOR Elrepho 2000은 평면 및 곡선 구성 요소의 정밀 측정 및 특성을 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 프로세스 제어, 품질 보증 및 장애 분석을 위한 비용 효율적인 솔루션입니다. 이 시스템은 플랫폼 중심부의 소형 디지털 영상 장치 인 고급 엘레 포 2000 (Elrepho 2000) 이미징 분광사진기를 기반으로합니다. 분광사진계는 최대 400 nm ~ 700 nm의 넓은 측정 범위를 가지며, 이를 통해 기계는 넓은 영역을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. DATACOLOR Elrepho 2000에는 고해상도 13 메가 픽셀 카메라가 장착되어 있어 자세한 이미지를 빠른 속도로 캡처할 수 있습니다. 이를 통해 초점 평면과 구조의 정확하고 반복 가능한 측정이 가능하므로 3D 측정 및 검사에 이상적입니다. 또한, 이 도구에는 샘플의 정확한 특성을 평가하는 다양한 분석 (analysis) 기능과 시각적 검사 (visual inspection) 기능이 포함되어 있습니다. 이미지 반전, 회색 음영 변환, 파장 추적, 강도 추적 및 대비 조정과 같은 기능을 통해 결과가 정확하고 반복 가능한지 확인할 수 있습니다. 또한 컴포넌트를 쉽게 식별하고 측정할 수있는 객체 인식 및 분류 알고리즘이 있습니다. 엘레포 2000 (Elrepho 2000) 은 다양한 소프트웨어 툴을 통해 지원되며, 이를 통해 사용자는 특정 애플리케이션 요구 사항에 맞게 측정 기능을 조정할 수 있습니다. 또한 입자 크기, 모양 분석, 서피스 프로파일 측정, 곡률 반지름, 광학 왜곡 분석, 결함 감지 등 다양한 고급 분석 기능을 제공합니다. 일관되고 안정적인 성능을 보장하기 위해 이 자산은 손쉬운 유지 보수 (maintenance) 와 조정 (calibration) 을 위해 설계되었습니다. 개방형 통합 아키텍처 플랫폼 (Integrated, Open Architecture platform) 을 사용하면 모델을 유연하게 사용자 정의할 수 있으므로, 특정 요구 사항에 맞게 장비 기능을 확장할 수 있습니다. 결론적으로 DATACOLOR Elrepho 2000은 매우 다양하고 비용 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 광범위한 측정/분석 기능을 통해 프로세스 제어, 품질 보증 (Quality Assurance), 장애 분석 등을 위한 완벽한 솔루션을 제공합니다.
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