판매용 중고 TOPCON SM 200 #9352068
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TOPCON SM 200은 재료 분석, 고장 분석, 품질 제어 등 다양한 응용을 위해 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 뛰어난 배율, 이미지 해상도, 시야 (field of view) 를 제공할 수 있는 고출력 (high-powered) 전자빔을 제공하여 다양한 소재와 용도에 적합합니다. 이 장비는 작동 거리 (최대 200mm) 와 최대 배율 (최대 300,000x) 을 가지므로 가장 작은 입자와 세부 사항의 이미지를 매우 선명하고 정밀하게 캡처하는 데 이상적입니다. 인체공학적으로 설계된 컨트롤과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 사용하면 운영 매개변수를 빠르고 쉽게 조정하고 데이터를 실시간으로 볼 수 있습니다. 이 시스템은 빠른 시퀀스 분석을 위해 여러 이미지를 캡처할 수 있으며, 표본의 3D 재구성을위한 여러 슬라이스 (slice) 도 캡처할 수 있습니다. 또한 이중 빔 구성을 통해 2 차 및 반사 된 전자의 효과를 관찰 할 수 있습니다. 최적의 성능을 보장하기 위해 장치에는 진공 기계 유지 및 오염 물질 최소화에 도움이 되는 진공 정화 자동화 (Vacuum Purifier Automation) 가 장착되어 있습니다. 또한 고급 이미지 분석 소프트웨어 (Advanced Image Analysis Software) 패키지가 장착되어 있어 다양한 이미지 처리 기능을 제공합니다. SM 200 은 강력하고 신뢰할 수 있는 스캐닝 (scanning) 전자 현미경으로, 사용자 친화적 패키지에 뛰어난 성능과 기능을 제공합니다. 다양한 소재와 어플리케이션에 적합하며, 뛰어난 해상도와 디테일 (detail) 기능을 갖춘 전문적인 품질의 이미지를 제공합니다.
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