판매용 중고 JEOL 6480 #293651583

JEOL 6480
ID: 293651583
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL 6480은 재료 분석 및 검사에 사용되는 주사 전자 현미경입니다. 높은 이미지 해상도와 다양한 분석 기능을 제공합니다. 현미경은 어려운 표면에서도 고감도 이미징 및 미량 분석을 허용하도록 설계되었습니다. 현미경의 중심에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 있는데, 이는 스파크 간격과 전기 노이즈를 제거하여 저전압 작동으로 고해상도 이미징을 가능하게합니다. 또한 FEG는 가변 빔 전류 (variable beam current) 및 전자 가속 전위를 사용할 수 있도록 허용하여 이미징 및 분석 기술에 상당한 유연성을 제공합니다. 6480은 SE, BSE 및 EDS 모드에서 작동하므로 사용자가 다양한 연구를 수행 할 수 있습니다. SE (2 차 전자) 영상은 표본 표면의 낮은 확대 연구에 유용하며, BSE (백 흩어진 전자) 영상은 장거리 대비 수준 이미징 및 지형에 적합하며, EDS (에너지 분산 분광법) 는 원소 구성 정보를 제공합니다. 또한 JEOL 6480 은 고유한 고화질 (High-Definition) 명암비 변형 기능을 통해 사용자가 볼 수 있는 이미지의 명암비를 최적화할 수 있습니다. 또한 가변 대비 제어 (Variable Contrast Control) 를 통해 여러 대비 개선 사항을 선택하고 나중에 사용할 수 있도록 저장할 수 있습니다. 또한 6480에는 자동화된 개체 기반 3D 이미징 패키지가 있으며, 이를 통해 표본의 빠르고 정확한 3D 재구성이 가능합니다. 이 기능은 특히 자세한 분석 작업에 유용합니다. JEOL 6480의 작동 범위는 1nm- 이며 매우 높은 해상도의 이미징이 가능합니다. 확대 범위는 최대 100,000 배, 시야는 최대 50,000 배이며, 초당 최대 27 프레임으로 이미지와 비디오를 캡처할 수 있습니다. 마지막으로, 6480은 다중 모달 이미징 (multi-modal imaging) 을 지원합니다. 즉, 여러 이미징 모드의 이미지를 하나의 이미지로 결합할 수 있습니다. 예를 들어, 동일한 표본의 SE, BSE 및 EDS 이미지를 단일 이미지에 결합하여 샘플을 빠르고 자세히 분석 할 수 있습니다.
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