판매용 중고 JEOL 2010 #9157313

JEOL 2010은 다양한 재료 샘플을 이미징 및 분석하기 위해 설계된 고성능 sweeping electron microscope (SEM) 입니다. 최대 10kV의 가속 전자 빔을 갖춘 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 제공하며 최대 50nm 해상도의 초저전압을 허용합니다. 이미징 및 표본 조작 중에 원하는 온도를 유지하는 인상적인 4 개의 독립적으로 조절 가능한 스캐닝 단계 (scanning stage) 와 냉각 온도 컨트롤러 (cooling temperature controller) 가 특징입니다. 2010 년에는 Scanning Annular Dark Field (ADF) 검출기와 블러 프리 이미징 및 확대 증가를위한 독점 Focus Drift Compensation 장비가 내장되어 있습니다. 또한 ADF 시스템 (ADF System) 은 다양한 깊이의 표본 지형에 대한 정보를 제공하여 특정 피쳐의 이미징에 대한 정확도를 높입니다. 독점적 인 EDS (에너지 분산 X- 선 분광법) 검출기는 표본의 원소 구성 및 형태를 정확하게 분석 할 수 있습니다. JEOL 2010에는 초박형 금 또는 기타 금속 층으로 샘플을 코팅하기위한 전용 Heating/Glow Discharge Module도 있습니다. 이 코팅은 샘플 가시성을 향상시키고 높은 대비 이미징을 제공 할 수 있습니다. 이 모듈에는 원하는 최종 이미징 결과를 얻기 위해 필름 구조의 완벽한 미세 튜닝을 위한 온도판 (integrated heating plate) 과 온도 모니터 (Temperature Monitor) 가 장착되어 있습니다. 탁월한 기능과 더불어, 2010년은 사용자에게 친숙한 컨트롤과 직관적인 메뉴 (메뉴) 를 제공하여 간편한 탐색 및 정보를 신속하게 액세스할 수 있습니다. 또한 향후 참조 및 비교를 위해 최대 10 개의 샘플 이미지를 저장할 수있는 자동 이미지 획득 장치 (Automated Image Acquisition Unit) 가 있습니다. 이 기계는 컴퓨터 제어 표본 로딩 시스템과 통합되어 정확도와 속도를 향상시킵니다. 전반적으로 JEOL 2010은 고해상도 이미징 및 분석 기능, 직관적인 컨트롤 및 사용자 친화적 메뉴, 모든 SEM 작업의 뛰어난 성능을 제공하는 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 다용도 기기는 연구· 산업 분야에서의 응용에 이상적이며, 데이터 수집· 분석의 질과 정확성을 대폭 높일 수 있다. & # 160; & # 160;