판매용 중고 HITACHI S-2300 #9003664

HITACHI S-2300
ID: 9003664
Scanning electron microscope.
HITACHI S-2300은 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 챔버 압력이 0.1 ~ 0.001 mbar 인 저진공 기기입니다. 그것은 필드 방출 소스 전자 빔을 안내하는 데 사용할 수있는 인 렌즈 (in-lens) 자기 극 조각과 공간-전하 효과를 줄이기 위해 짧은 초점 거리의 미니어처 콘덴서 렌즈 (miniature condenser lens) 를 가지고 있습니다. 샘플은 챔버 (chamber) 에 배치되고 빔은 샘플을 통과하여 2 차 확대 광학으로 전달됩니다. 디스플레이 (Display) 또는 디지털 캡처 (Digitally Capture) 방식으로 직접 볼 수 있는 샘플 이미지를 제공합니다. S-2300은 두 가지 스캔 모드를 제공합니다. 라인 스캔 모드 (LS) 및 스티그매틱 모드 (SM). LS 모드에서는 20nA, SM 모드에서는 10nA 의 낮은 빔 전류를 가지고 있어 섬세한 샘플을 이미징할 수 있습니다. 현미경에는 에버 하트-손리 (Everhart-Thornley) 냉장 방출 총이 장착되어 있으며, 짧은 분기와 작은 반점 크기로 인해 더 높은 해상도를 표시합니다. HITACHI S-2300 은 이미지 처리 및 분석 속도를 높이는 다양한 기능을 제공합니다. 터보 스캔 모드 (turbo-scan mode) 및 샘플 자동 추적 (sample auto-tracking) 옵션과 같은 기능을 통해 큰 샘플을 빠르게 이미지화할 수 있습니다. 또한 온도 조절을위한 내장 Peltier 쿨러가 장착되어 있습니다. S-2300은 EBSD (electron backscatter diffraction) 및 EDS (energy dispersive spectroscopy) 와 같은 분석 프로세스를 수행 할 수 있습니다. 스팟 직경이 1 um 인 EBSD 검출기가 장착되어 있습니다. 또한, EBSD 및 EDS 기능은 사용 편의성을 위해 동일한 검출기 헤드에 통합됩니다. HITACHI S-2300 은 이미지 및 데이터 처리를 위한 고급 소프트웨어를 제공합니다. Auto ImageCore 및 ImageJ와 같은 다양한 종류의 이미징 및 분석 소프트웨어를 지원합니다. 이를 통해 사용자는 이미지와 데이터를 캡처, 저장, 처리, 분석할 수 있으며, 이로써 샘플의 구조적, 요소적 구성을 더욱 잘 파악할 수 있습니다. 마지막으로 S-2300은 '라이브 이미징 (live imaging)' 이 가능하므로 사용자가 샘플 표면 기능을 실시간으로 관찰 할 수 있습니다. 이 기능은 부식이나 세포 운동 (motion of cell) 과 같은 프로세스를 연구하는 데 특히 유용합니다. 다양한 SEM 과 호환되는 HITACHI S-2300 은 또한 모든 종류의 표본 준비 액세서리를 갖추고 있어 더욱 향상된 기능을 제공합니다.
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