판매용 중고 HITACHI RS7000-30 #113467

HITACHI RS7000-30은 나노 스케일 수준에서 물질의 이미징 및 분광법을 획득하는 데 사용되는 고도의 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 반도체, 나노 와이어, 생체 분자, 다층 나노 입자와 같은 재료의 형태, 구성 및 전기 행동을 조사하는 데 일반적으로 사용됩니다. 광범위한 재료, 매크로 (macro) 에서 나노 스케일 (nanoscale) 수준, 고급 연구 응용 프로그램 등의 특성화에 적합합니다. RS7000-30은 고급 전자 폭격 시스템 (Advanced Electron Bombardment System) 을 사용하여 측면 해상도 1.2nm의 고품질 이미지를 생성합니다. 고해상도 FEG (chromatic corrected field emission gun) 전자원, 10x/100x IR-corrected objective lenses 및 디지털 이미징 시스템이 장착되어 있습니다. 디지털 이미징 시스템은 온보드 멀티 레벨 검출기를 사용하여 고해상도 (최대 5 미크론) 의 디지털 이미지를 캡처합니다. HITACHI RS7000-30은 여러 전자 검출기에서 동시 신호를 얻는 것과 같은 상관 이미징 기능을 수행 할 수 있습니다. 또한 자동 단계 이동 (Automatic Stage Shift), 질량 분석 기능 및 다양한 응용 프로그램 (예: 분말 분석 및 두꺼운 샘플) 이 특징입니다. RS7000-30은 기존 현미경보다 많은 이점을 가지고 있습니다. 이 제품은 더 높은 해상도의 이미지, 빠른 구입 시간, 넓은 영역의 이미징 등을 제작할 수 있습니다. 전자 현미경과 광학 현미경을 결합하여, 이미지 왜곡을 최소화 할 수 있고, 더 큰 영역을 이미징 할 수 있습니다. 또한 HITACHI RS7000-30에는 차세대 MCD (Magnification Control Device) 가 장착되어 있습니다. 이 장치를 사용하면 사용자가 이미징 매개변수를 변경하고 최적화하여 원하는 결과를 얻을 수 있습니다 (영문). 또한 MCD 는 수동 보정 및 설정이 필요하지 않습니다. RS7000-30은 고해상도 이미징 및 효율적인 작동을 제공하는 고도의 스캐닝 전자 현미경입니다. 전자 (electron), 광학 (optical), 분광학 (spectroscopy) 기능을 결합하여 다양한 응용 프로그램과 사용자에게 적합합니다. 자동화된 단계, 다중 레벨 검출기, 확대/축소 제어 장치를 통해 더욱 신속하게 수집하고 이미지 처리 결과를 얻을 수 있습니다. 정확하고 다양한 기능을 갖춘 HITACHI RS7000-30은 나노 물질과 첨단 연구를 위한 탁월한 선택입니다.