판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS OPAL 7830I #9256868

AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830i Scanning Electron Microscope (SEM) 는 재료의 미세 구조와 구성에 대한 통찰력을 얻기 위해 사용되는 강력하고 고해상도 연구 도구이며, 재료 및 고급 광자 연구, 의료 연구, 반도체 프로세스 기술. AMAT Opal 7830i는 필드 방출 SEM (field-emission SEM) 으로, 전자의 원천으로서 냉장 방출기가 특징입니다. 이 유형의 에미터는 X 선 소스보다 밝기와 방향성이 높습니다. 즉, APPLIED MATERIALS 7830I는 매우 높은 해상도의 이미지를 생성 할 수 있습니다. SEM에는 다양한 검출기가 장착되어 있으며, 백스캐터 전자, 2 차 전자, X- 선 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDX) 및 파장 분산 x- 선 분광법 (WDS) 데이터를 감지 할 수 있으며 고해상도 2 차 전자 및 백스캐터. 이 기계는 사용하기 쉽고 사용자 정의가 용이한 터치스크린 사용자 인터페이스 (Touchscreen User Interface) 를 사용하며, 다양한 자동화 프로세스와 함께 제공되어 실험적인 설정과 분석을 간소화합니다. 예를 들어, 자동 이미징 시스템 (Automated Imaging System) 을 사용하면 이미지 필드의 샘플 배치, 샘플러 로딩, 이미지 획득 등을 자동화하여 복잡한 샘플 분석을 빠르고 정확하게 완료할 수 있습니다. 응용 재료 오팔 7830i (APPLIED MATERIALS Opal 7830i) 에는 자동 터보 펌핑 시스템이있는 진공 챔버가 있어 원하는 압력을 안정화하는 데 걸리는 시간을 최소화합니다. 또한, 높은 열 안정성 및 스테이지 정밀도를 통해 코어 이미징 (core imaging) 및 고해상도 지형 (high-resolution topography) 맵에서 샘플 서피스를 모두 해결할 수 있습니다. Opal 7830i에는 다양한 추가 기능이 장착되어 있어 고품질 이미징 및 특성화가 보장됩니다. 자동화 된 EDX 및 WDS 분광법 시스템은 원소 조성을 쉽게 분석 할 수있는 반면, 자동화 된 에너지 격차 수정 및 위상 보상 기술은 에너지 또는 샘플 드리프트 (drift) 로 인한 불안정성을 제거합니다. 마지막으로, 모서리 탐지 (Edge Detection) 알고리즘을 사용하면 이미지 내에서 자세한 내용을 확인할 수 있습니다. 전반적으로 AMAT 7830I Scanning Electron Microscope는 강력하고 다양한 기능으로 다양한 유용한 기능과 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 다양한 자동 프로세스와 직관적인 터치스크린 사용자 인터페이스 (touchscreen user interface) 를 통해 SEM 은 고해상도 이미지 (high-resolution image) 와 샘플의 원소 데이터를 수집해야 하는 과학자 및 연구자에게 이상적입니다.