판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS 7830 #9384839

AMAT/APPLIED MATERIALS 7830은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 다양한 재료의 표면 윤곽선 고해상도 이미징 및 분석에 사용됩니다. 다양한 검출기와 FEG (field emission gun) 전자 소스가 장착되어 있습니다. 이를 통해 10 × 에서 20,000 × 범위의 확대율로 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한 나노 스케일 (nanoscale) 수준의 미세 구조, 박막 두께 및 재료 구성을 분석하는 고급 기능이 있습니다. AMAT 7830 SEM의 핵심 구성 요소에는 전자원과 다양한 검출기가 포함됩니다. 강력한 전자 소스는 뛰어난 이미지 해상도, 밝기, 명암비를 제공하며, 무기 및 유기 물질을 포함한 다양한 물질에 대한 고해상도 이미징을 지원합니다. 응용 재료 7830 (APPLIED MATERIALS 7830) 은 다양한 검출기를 사용하여 다른 재료의 지형에서 상당한 차이를 감지할 수 있으며, 작은 입자 및 미세 구조와 같은 매우 훌륭한 기능을 감지합니다. 또한 박막의 두께를 분석하는 데 사용되는 BSE (backscattered electron) 이미징 및 연구 중인 물질의 원소 조성에 대한 정보를 제공 할 수있는 EDX (energy-dispersive X-ray) 분석을 제공합니다. 7830에는 성능과 사용 편의성에 도움이 되는 기능이 있습니다. 디지털 인터페이스 (Digital Interface) 와 위상 대비 이미징 디스플레이 (Phase-Contrast Imaging Display) 기능을 통해 사용이 용이하며, 통합 옵틱과 컴퓨터 제어 탐지는 이미징 매개변수를 정확하게 제어합니다. 또한 SEM에는 고속 자동 초점 (Autofocusing) 이 있으며 이미지 데이터를 저장하여 나중에 비교할 수 있습니다. 또한 이미지 품질을 극대화하기 위해 정확한 샘플 포지셔닝 (sample positioning) 및 정확한 z축 이동을 위한 자동 단계가 있습니다. AMAT/APPLIED MATERIALS 7830은 다양한 재료의 나노 스케일 구조를 연구하기위한 다재다능한 도구입니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging), 자동 단계 (automated stage) 및 다양한 검출기 (detector) 를 통해 나노 스케일 수준에서 박막 및 기타 미세 구조를 분석하는 효과적인 방법을 제공합니다. AMAT 7830은 신뢰할 수 있고 다양한 SEM을 찾는 연구원들에게 이상적인 선택입니다.