판매용 중고 SIGNATONE S-1007 #159899

SIGNATONE S-1007은 다양한 전자 부품 및 어셈블리를 테스트하도록 설계된 전문 전문가입니다. SIGNATONE S1007은 메모리 카드, IC, SOIC와 같은 섬세한 장치를 처리 할 수있는 고급 Probe 기능을 제공합니다. 고유 한 프로브 헤드 (Probe Head) 설계는 테스트 된 장치에 과도한 스트레스를 주지 않고 섬세한 프로브를 제공합니다. S-1007 은 양면 Probing Head 를 장착하여 향후 Probing 시스템을 보다 쉽게 설정할 수 있습니다. 큰 표면적 접촉 패드는 신호 전송을 개선하고 테스트 중인 장치 간의 크로스 토크를 줄입니다. 프로브 헤드 (Probe Head) 를 조정할 수 있으므로 다양한 두께와 각도의 컴포넌트를 테스트할 수 있으며, 우수한 프로브 성능을 제공합니다. S1007의 위치 반복 성 (positional repeatability) 은 정확하고 신뢰할 수있는 랩-아이언 베이스 (lapped-iron base) 와 대형 조정 플랫폼을 사용하여 달성됩니다. 대형 조정 플랫폼 (Oversized Adjustment Platform) 은 다양한 Probe 카드를 쉽게 설정할 수 있으며, 다양한 디바이스의 정확하고 반복 가능한 테스트를 위한 안정적인 플랫폼을 제공합니다. 시그나톤 S-1007 (SIGNATONE S-1007) 에는 테스트 대상 장치의 요구 사항에 맞게 사용자 정의할 수 있는 다양한 환경 제어 기능이 있습니다. 온도 범위는 섭씨 0 ~ + 65도이며 습도 범위는 0 ~ 95% RH입니다. 이 광범위한 매개변수를 사용하면 다양한 전자 부품 (electronic component) 과 어셈블리 (assembly) 를 효과적으로 테스트할 수 있습니다. SIGNATONE S1007에는 특정 테스트 요구 사항에 맞게 세밀하게 조정할 수 있는 많은 사용자/프로그래밍 가능한 설정이 있습니다. S-1007 의 소프트웨어 기능은 강력하고 유연하며, 테스트 매개변수 및 결과를 완벽하게 제어합니다. 테스트 데이터를 자동으로 기록하고 범위를 벗어난 테스트 결과가 발생할 때 알림 (notification) 을 제공하도록 프로그래밍할 수 있습니다. S1007 은 고품질 소재와 신중하게 설계된 하드웨어 (하드웨어) 로 내구성이 뛰어납니다. 이 부품은 타이트한 공차 (tight tolerance) 와 장시간 정확하고 신뢰할 수 있는 서비스를 지원하도록 설계된 구조로 가공됩니다. 이 Prober는 편리한 손잡이와 편리한 모니터링 시스템 (Monitored System) 을 통해 운영자 친화적으로 설계되었습니다.