판매용 중고 MPI LEDA-8F #9215467

MPI LEDA-8F (High-Precision Automated Prober) 는 최대 8인치 크기의 웨이퍼에서 광범위한 테스트 어플리케이션을 가능하게 하도록 특별히 설계된 자동화된 전문가입니다. 초전자 산업의 ULSI 부품, OLED, MEMS 및 기타 구성 요소의 전기 성능을 테스트 할 때 연구 및 산업 응용 분야에 이상적입니다. LEDA-8F는 반도체 프로브 테스트를 위해 안정적인 자동화 및 정확성을 제공하도록 설계되었습니다. 정확하고 3 차원, 선형 모터 동작 장비와 정확성을 보장하는 내장 비전 시스템이 특징입니다. 또한 고해상도, 장거리 구조 평준화 장치 (long-range structure leveling unit) 및 광학 단계를 통해 0.5 미크론 정확도 내에서 샘플 및 프로브 카드의 비접촉 정렬이 가능합니다. MPI LEDA-8F에는 안정성과 빠른 바늘 변경 시간을 제공하는 기계적 이동 부품이없는 자동 프로브 바늘 변경 머신 (automated probe needle changing machine) 이 있습니다. 바늘 (needle) 기능은 설정 시간을 줄이고 가용성을 높여 처리량이 많은 애플리케이션에 적합합니다. Prober의 고급 바늘 처리기 (Advanced Needle Handler) 는 스캔 어플리케이션 및 TAS 측정과 같은 어플리케이션에 대해 정확한 팁 교체 및 효율적인 반복성을 제공합니다. 프로버 (Prober) 는 다양한 맞춤형 프로브 카드 (Customized Probe Card) 와 자동 도량형 및 정렬 시스템 (Automated Metrology and Sorting System) 을 포함하여 다양한 추가 옵션을 통해 특정 애플리케이션에 맞게 조정할 수 있습니다. 내장형 비전 (vision) 도구는 자동 웨이퍼 검사 및 품질 제어를 위한 사용이 간편한 이미지 획득 자산을 제공합니다. LEDA-8F에는 시각 형상 처리 (visual-guided image processing) 와 오류 수정 (error correction) 을 모두 지원하는 고급 모델 제어 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 상세한 프로세스 레시피, 프로세스 편집 및 분석 기능을 갖추고 있으며, 프로세스 자동화를 보다 간단하고 효율적으로 수행할 수 있습니다. 전반적으로, MPI LEDA-8F는 마이크로 일렉트로닉스 업계에서 광범위한 테스트 응용 프로그램을 가능하게하도록 특별히 설계된 효율적이고 신뢰할 수있는 전문가입니다. ULSI 구성 요소, OLED, MEMS 및 기타 구성 요소의 전기 성능을 테스트할 때 연구 및 산업 응용 프로그램에 이상적입니다. 고급 제어 장비 소프트웨어, 정확한 3 차원 모터 모션 시스템, 내장 비전 유닛, 자동 프로브 바늘 변경 머신, 개별 테스트 요구 사항에 맞는 다양한 추가 맞춤형 옵션 (customizable option) 이 장착되어 있습니다.