판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 4090 #293615228

ELECTROGLAS/EG 4090 Prober는 반도체 테스트 및 생산 응용 프로그램에 사용되는 전문 기계입니다. 이를 통해 테스터는 마이크로 일렉트로닉 장치의 전기 특성을 효율적이고 정확하게 조사 할 수 있습니다. EG 4090 Prober는 모듈식 설계를 통해 다양한 유형의 장치를 테스트하는 데 유연성을 제공합니다. 중앙 장비와 4 개의 독립 워크스테이션으로 구성됩니다. 중앙 시스템에는 진공 자동화 챔버 (vacuum automation chamber), 시력 장치 (vision unit) 및 정밀 프로버 (precision prober) 가 장착되어 있습니다. 진공 자동화 챔버 (vacuum automation chamber) 는 테스트 카세트에서 ADEC 프로버로 웨이퍼 또는 개별 장치를 전송하는 데 사용됩니다. 이 작업은 래칭 (latching) 및 전송 (transfer) 을 통해 이루어지며 정확한 샘플 정렬을 보장합니다. 진공실은 또한 테스트 과정에서 전기 신호 (electrical signal) 의 공급과 웨이퍼의 시각적 검사 (visual inspection) 를 용이하게합니다. 비전 머신은 정확하고 반복 가능한 프로브 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 고해상도 이미지 측정, 정렬 기능 및 가변 확대/축소 기능이 특징입니다. 이 도구는 프로브 프로세스 전, 중, 후에 샘플을 자동으로 검사하고 정렬하는 데 사용됩니다. 정밀 프로버는 정확하고 반복 가능한 전기 연결을 제공하며, 최소 프로빙 힘은 0.3 그램입니다. 매우 민감하고 정확하게 교정 된 장치이며, 가장 어려운 형상과 재료를 관통 할 수 있습니다. 따라서 테스트 시간과 비용이 절감되어 정확하고 안정적인 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 4 개의 독립 워크스테이션은 비전 에셋 (vision asset), 계량 모델 (weighting model) 및 카세트 어댑터 (cassette adapter) 와 같은 프로버와 주변 장치를 제어하는 데 사용됩니다. 워크스테이션은 테스트를 설정하고 모니터링하고, 테스트 결과를 분석하고, 상세한 보고서를 생성하는 데 사용됩니다. ELECTROGLAS EG4090 Prober는 신뢰할 수 있고 비용 효율적인 장치로, 광범위한 테스트 및 프로덕션 어플리케이션에 적합합니다. 또한 디바이스의 효율적이고 정확한 Probe를 가능하게 하며, 시기적절하고 정확한 결과를 얻어 전반적인 테스트 처리량을 향상시킬 수 있습니다.