판매용 중고 ELECTROGLAS / EG 2001X #293606276

제조사
ELECTROGLAS / EG
모델
2001X
ID: 293606276
Prober.
ELECTROGLAS/EG 2001X는 반도체 장치 신뢰성 및 고장 분석에 사용하도록 설계된 고급 전문가입니다. 즉, 고급 Probing 솔루션을 통합하여 지형적 세부 사항의 디바이스 결함을 정확히 파악하고 평가할 수 있습니다. 프로버는 상단 장착 로터리 선택 터렛, 진공 시스템 및 여러 짝짓기 부품이있는 스테인레스 스틸 (stainless steel) 로 구성된 주택으로 구성됩니다. 로터리 선택 포탑에는 2 개의 8 무장 웨이퍼 홀더, 2 개의 마이크로 마니 풀 라블 프로버 및 마이크로 마니 풀 라블 참조 프로버가 있습니다. 웨이퍼 홀더를 사용하면 프로버 (Prober) 가 다양한 크기의 웨이퍼와 대칭 패턴을 단일 동작으로 보호할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 일련의 위치 피드백 센서 및 IR LED와 함께 정교한 폐쇄 루프 진공 시스템 (closed-looped vacuum system) 을 사용하여 테스트 중인 장치에 대한 정밀하고 오류 없는 정렬 및 보안 연결을 보장합니다. 이 시스템은 프로브 (Probe) 와 장치 (Device) 사이의 열 전달이 매우 적은 안정적인 연결을 제공하여 높은 전력 밀도에서도 정확한 전기 측정을 보장하도록 설계되었습니다. 이 Prober는 직관적이고, 터치 방식의 사용자 인터페이스를 통해 프로세스 설정 및 데이터 수집을 빠르고 쉽게 수행할 수 있습니다. 전동식 헤드 (Motorized Head) 와 개별 프롤러 헤드 (Prober Head) 를 조작자가 제어할 수 있도록 운영자는 기능과 속도를 사용자 정의할 수 있습니다. 이 기계는 또한 자동 기하학적 수정, 원자력 현미경 이미징, 장치 특성화 및 결함 분석을위한 최첨단 전기 진단 (최첨단) 등 고급 사용자를 위한 다양한 분석 및 엔지니어링 도구를 제공합니다. EG 2001 X는 반도체 장치의 신뢰성 및 고장 분석을위한 강력하고 정확한 도구입니다. 직관적인 워크플로우, 견고한 설계, 고급 (Advanced) 통합 Prober 솔루션을 통해 디바이스 결함을 신속하게 파악하고 설계를 최적화하여 장애를 최소화하고 안정성을 향상시킬 수 있습니다.
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