판매용 중고 ELECTROGLAS 4090 #9233875
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ID: 9233875
Wafer prober
Chuck type: Hot chuck ambient
Temperature: Up to 130°C
Chuck assembly: Gold
Operating system: MS-DOS
Base pneumatic assembly
Chuck-top
Pre-aligner assembly
T-Arm assembly
Indexer assembly
A6
A13
VM: OCR and Optics bridge camera controller unit
MHCM: A14B PCB Board
Missing parts:
IDE / Hard Disk Drive (HDD) and Floppy
Joystick assembly
Power supply
No material handler control boards
No monitor
No chuck forcer
No PCM boards
Assembly:
Main power supply
Chuck-top (Gold / Silver)
EG Monitor
Operator control panel (Joystick assembly)
DCM:
Floppy A3
Hard disk drive A2
Power supply (PS1)
A1 Pentium board, 200 MHz
A1A1 Digital communication board
A1A2 Ether link communication (Network interface)
A1A3 Audible alarm / (2) Lamp drivers
A1A6 Marvels (2)
Power supply: 200/230V.
ELECTROGLAS 4090은 반도체 웨이퍼 프로브에서 고급 제어 및 정확성을 제공하도록 설계된 Prober입니다. 이 프로버는 고속 병렬 테스트에 적합하며 보안 높이 조정, 레이저 정렬, 터치 프로브 (touch probe) 기능이 기본으로 제공됩니다. 4090의 보안 높이 조정 기능은 사용자 조절 가능한 공기 압력으로 고급 공기 베어링 기술을 사용합니다. 이것은 접촉 스타일 프로버에 비해 정확성, 안정성 및 반복 성을 향상시킵니다. 또한, 조정 및 유지 관리를 단순화하고, 환경 진동이 측정에 미치는 영향을 줄입니다. 프로버 (Prober) 는 또한 레이저 정렬 장비를 특징으로하며, 기존의 기계적 방법보다 더 높은 정확성과 반복성을 제공합니다. 이 시스템은 2 축 레이저 간섭계와 2 개의 통합 포지셔닝 단계로 구성됩니다. 프로브-웨이퍼 거리 (5 미크론 이하) 를 정확하게 측정하여 테스트에 더 엄격한 결함이 있습니다. ELECTROGLAS 4090에는 패턴 또는 기능에 대한 자동 측정이 가능한 통합 터치 프로브 (touch probe) 장치가 있습니다. 5 축 제어 루프, 고급 프로그래밍 가능한 컨트롤러, 터치 프로브 (touch probe) 어셈블리 및 자동 로드 언로드 도구 머신이 장착되어 있습니다. 이 프로버는 또한 사용을 더욱 사용자 정의하기 위해 많은 액세서리를 갖추고 있습니다. 여기에는 EDGE ™ 브랜드 높이 게이지, 에지 감지 라이브러리, 솔더 두께 스캐너 및 진공 청소기가 포함됩니다. 이러한 기능은 다양한 웨이퍼 프로브 테스트에서 향상된 정확성과 효율성을 제공합니다. 요약하자면 4090은 자동화된 테스트를 위해 설계된 고성능 전문가입니다. 다양한 애플리케이션에 적합하며, 보안 높이 조정, 레이저 정렬, 터치 프로브 (touch probe) 기능의 장점을 제공합니다. 종합적인 액세서리 (accessory) 와 첨단 기술로 반도체 웨이퍼 프로브 (wafer probing) 에서 최고 수준의 정확성과 반복성을 달성할 수 있다.
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